Para responder corretamente à questão sobre a Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), precisamos entender como ela funciona e quais sinais são gerados durante a interação do feixe de elétrons com a superfície da amostra. Na MEV, quando o feixe de elétrons atinge a superfície do material, ele gera dois tipos principais de sinais que são utilizados para a análise: 1. Elétrons secundários: Esses são elétrons que são ejetados da superfície do material devido à interação com o feixe de elétrons. Eles são muito importantes para a formação de imagens de alta resolução da topografia da superfície. 2. Elétrons retroespalhados: Esses são elétrons que, em vez de serem ejetados, são refletidos de volta para o detector após interagir com a amostra. Eles fornecem informações sobre a composição e a estrutura do material. Analisando as alternativas: A) Fótons retroespalhados; elétrons retroespalhados. - Fótons não são gerados nesse contexto. B) Elétrons secundários; elétrons retroespalhados. - Esta opção está correta, pois menciona os dois tipos de elétrons gerados. C) Fótons secundários; nêutrons retroespalhados. - Fótons não são relevantes aqui e nêutrons não são gerados na MEV. D) Íons retroespalhados; prótons secundários. - Íons e prótons não são os sinais gerados na MEV. E) Nêutrons secundários; íons secundários. - Nêutrons e íons não são relevantes para a MEV. Portanto, a alternativa que completa corretamente as lacunas é: B) Elétrons secundários; elétrons retroespalhados.