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PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 1 CAPÍTULO 1 LA MEDICIÓN DE MAGNITUDES FÍSICAS LECCIÓN 1 PATRONES Y MEDIDAS La necesidad de medir es evidente en la mayoría de las actividades técnicas o científicas. Sin embargo, no interesa sólo contar con medidas sino también saber si dichas medidas son válidas. Para ello debemos recordar la definición de medición como el "proceso por el cual se asignan números o símbolos a atributos de entidades del mundo real de tal forma que los describa de acuerdo con reglas claramente definidas"1. Por lo cual se debe concluir que toda medición debe asegurar una adecuada representación del atributo real medido mediante los símbolos o números asignados. A nivel científico para poder realizar una representación adecuada de un atributo real se desarrollan normas y estándares internacionales de medición, un ejemplo de ello es el sistema internacional de unidades (SI), para las magnitudes físicas. El SI se estableció en Francia con el fin de solventar los dos grandes inconvenientes que presentaban las mediciones: 1. Unidades con el mismo nombre variaban de una provincia a otra 2. Las subdivisiones de las diferentes medidas no eran decimales, lo cual representaba grandes complicaciones para el cálculo. Se trataba de crear un sistema simple y único de medidas que pudiese reproducirse con exactitud en cualquier momento y en cualquier lugar, con medios disponibles para cualquier persona. En 1795 se instituyó en Francia el Sistema Métrico Decimal. En España fue declarado obligatorio en 1849. El Sistema Métrico se basa en la unidad "el metro" con múltiplos y submúltiplos decimales. Del metro se deriva el metro cuadrado, el metro cúbico, y el kilogramo que era la masa de un decímetro cúbico de agua. 1 FENTON, N. & S. L. PFLEEGER (1997), SOFTWARE METRICS: A RIGOROUS AND PRACTICAL APPROACH, SEGUNDA EDICIÓN, INTERNATIONAL THOMSON COMPUTER PRESS, PÁG. 5 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 2 Actualmente las unidades del SI son la referencia internacional de las indicaciones de los instrumentos de medida y a las que están referidas a través de una cadena ininterrumpida de patrones de calibración. PATRONES DE MEDIDA Un patrón de medida es una medida materializada, un instrumento de medida, un material de referencia o un sistema de medida concebido para definir, realizar, conservar o reproducir una unidad o uno o más valores de una magnitud, de modo que sirvan de referencia. No existe un listado internacional que comprenda todos los patrones de medida aunque, en el campo de la metrología dimensional, sí existe una clasificación ampliamente difundida de patrones e instrumentos, denominada DimVIM, creada por el Grupo de Trabajo sobre Metrología Dimensional (WGDM) del Comité Consultivo de Longitud (CCL). En cuanto a patrones de unidad de medida y de acuerdo al SI tenemos las unidades de medidas básicas en la tabla 1. UNIDADES BÁSICAS Magnitud Nombre Símbolo Longitud metro m Masa kilogramo kg Tiempo segundo s Intensidad de corriente eléctrica ampere A Temperatura termodinámica kelvin K Cantidad de sustancia mol mol Intensidad luminosa candela cd FUENTE: http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm TABLA 1. UNIDADES BÁSICAS PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 3 El metro (m) el cual se define como la longitud del trayecto recorrido por la luz en el vacío durante un intervalo de tiempo de 1/299 792 458 s. El metro se realiza a nivel primario mediante la longitud de onda de un láser estabilizado de helio-neón. En niveles inferiores se utilizan patrones materializados, como los bloques patrón, asegurándose la trazabilidad mediante el empleo de interferometría óptica para determinar la longitud de los bloques patrón con referencia a la longitud de onda de la luz láser mencionada anteriormente. El kilogramo (kg) es igual a la masa del prototipo internacional del kilogramo. El segundo (s) el cual es igual a 9.192.631.770 períodos de radiación correspondiente a la transición entre los dos niveles hiperfinos del estado fundamental del isótopo 133 del átomo de cesio (133Cs), medidos a 0 K. El ampere (A) es la intensidad de una corriente constante que manteniéndose en dos conductores paralelos, rectilíneos, de longitud infinita, de sección circular despreciable y situados a una distancia de un metro uno de otro en el vacío, produciría una fuerza igual a 2·10-7 newton por metro de longitud El kelvin (K), unidad de temperatura termodinámica, es la fracción 1/273,16 de la temperatura termodinámica del punto triple del agua. El mol (mol) es la cantidad de sustancia de un sistema que contiene tantas entidades elementales como átomos hay en 0,012 kilogramos de carbono 12 La candela (cd) es la unidad luminosa, en una dirección dada, de una fuente que emite una radiación monocromática de frecuencia 540·1012 hertz y cuya intensidad energética en dicha dirección es 1/683 watt por estereorradián. UNIDADES DERIVADAS ELÉCTRICAS Las medidas eléctricas mas utilizadas en el área de la instrumentación son las descritas en la tabla 2. Un hertz (Hz) es la frecuencia de un fenómeno periódico cuyo periodo es 1 segundo. Un watt (W) es la potencia que da lugar a una producción de energía igual a 1 joule por segundo. Un coulomb (C) es la cantidad de electricidad transportada en 1 segundo por una corriente de intensidad 1 ampere PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 4 Un volt (V) es la diferencia de potencial eléctrico que existe entre dos puntos de un hilo conductor que transporta una corriente de intensidad constante de 1 ampere cuando la potencia disipada entre estos puntos es igual a 1 watt Magnitud Nombre Símbolo Expresión en otras unidades SI Expresión en unidades SI básicas Frecuencia hertz Hz s-1 Potencia watt W J·s-1 m2·kg·s-3 Cantidad de electricidad carga eléctrica coulomb C s·A Potencial eléctrico fuerza electromotriz volt V W·A-1 m2·kg·s-3·A-1 Resistencia eléctrica ohm W V·A-1 m2·kg·s-3·A-2 Capacidad eléctrica farad F C·V-1 m-2·kg-1·s4·A2 Flujo magnético weber Wb V·s m2·kg·s-2·A-1 Inducción magnética tesla T Wb·m-2 kg·s-2·A-1 Inductancia henry H Wb·A-1 m2·kg s-2·A-2 FUENTE: http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm TABLA 2. UNIDADES ELÉCTRICAS Un ohm (W) es la resistencia eléctrica que existe entre dos puntos de un conductor cuando una diferencia de potencial constante de 1 volt aplicada entre estos dos puntos produce, en dicho conductor, una corriente de intensidad 1 ampere, cuando no haya fuerza electromotriz en el conductor. Un farad (F) es la capacidad de un condensador eléctrico que entre sus armaduras aparece una diferencia de potencial eléctrico de 1 volt, cuando está cargado con una cantidad de electricidad igual a 1 coulomb. Un weber (Wb) es el flujo magnético que, al atravesar un circuito de una sola espira produce en la misma una fuerza electromotriz de 1 volt, si se anula dicho flujo en un segundo por decaimiento uniforme. Una tesla (T) es la inducción magnética uniforme que, repartida normalmente sobre una superficie de 1 metro cuadrado, produce a través de esta superficie un flujo magnético total de 1 weber PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 5 Un henry o henrio (H) es la inductancia eléctrica de un circuito cerrado en el que se produce una fuerza electromotriz de 1 volt, cuando la corriente eléctrica que recorre el circuito varía uniformemente a razón de un ampere por segundo. CLASIFICACIÓN DE LOS PATRONES DE MEDICIÓN Los patrones de medición se clasifican en: Patrones Internacionales: los patrones internacionales estándefinidos por acuerdos internacionales como el sistema MKSA en donde los patrones se encuentran en la oficina internacional de pesas y medidas y no están disponibles como instrumentos de comparación. Patrones Primarios: son los que representan las unidades fundamentales y algunas unidades mecánicas y eléctricas derivadas, se calibran independientemente por medio de mediciones absolutas por cada uno de los laboratorios nacionales y una de sus funciones es calibrar y verificar los patrones secundarios. Patrones Secundarios: son patrones básicos de referencia que se utilizan en los laboratorios industriales y la responsabilidad de mantenimiento, calibración y certificación con respecto al primario depende del laboratorio o empresa. Patrones de Trabajo: son las herramientas principales del laboratorio de medición las cuales son utilizadas para verificar y calibrar la exactitud del comportamiento de las mediciones efectuadas en las aplicaciones industriales. En la figura 1 se muestra la escala de patrones desde el internacional hasta el de trabajo. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 6 FUENTE: www.cem.es/cem/es_es/metrologia/sme.pdf FIGURA 1. CLASIFICACIÓN DE LOS PATRONES DE MEDICIÓN LA TRAZABILIDAD EN LA MEDICIÓN La trazabilidad es un conjunto de medidas, acciones y procedimientos que permiten registrar e identificar cada producto desde su origen hasta su destino final. Consiste en la capacidad para reconstruir la historia, recorrido o aplicación de un determinado producto, identificando: Origen de sus componentes. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 7 Historia de los procesos aplicados al producto. Distribución y localización después de su entrega. Al contar con esta información es posible entregar productos definidos a mercados específicos, con la garantía de conocer con certeza el origen y la historia del mismo. El concepto de trazabilidad está asociado, sin duda, a procesos productivos modernos y productos de mayor calidad y valor para el cliente final. Hoy en día existe la tecnología que permite rastrear con precisión el camino que recorre un producto en la cadena productiva y de comercialización. LA METROLOGÍA La Metrología es, simplemente, la ciencia y arte de medir "bien". Como las mediciones son importantes en prácticamente todos los procesos productivos, su relevancia para la Calidad es evidente. Medir "bien" no es sólo medir con cuidado, o utilizando el procedimiento y los instrumentos adecuados. Además de lo anterior, se trata de que las unidades de medida sean equivalentes, es decir, que cuando yo mido por ejemplo 3,6 cm,"mis" centímetros sean los mismos que los de un francés, coreano o eskimal. Esto se asegura cuando cada país tiene una infraestructura metrológica, compatible y ligada con las infraestructuras metrológicas de otros países, consistente en la disponibilidad de laboratorios donde se pueda calibrar los instrumentos de medición. La compatibilidad entre países se asegura mediante intercomparaciones periódicas, en las cuales un determinado patrón de medida es medido sucesivamente por los diferentes laboratorios. LA CALIBRACIÓN Es simplemente el procedimiento de comparación entre lo que indica un instrumento y lo que "debiera indicar" de acuerdo a un patrón de referencia con valor conocido, Por ejemplo: Valor de referencia = 1,08 mm, Valor indicado = 1,09 mm Dependiendo del instrumento, a veces la calibración incluye un preajuste, por ejemplo, del valor cero. Los resultados de la calibración son informados en un documento llamado Certificado de Calibración. Hay dos formas de indicar los resultados: - Como la corrección a aplicar, obtenida como Valor de referencia - Valor indicado. Para el ejemplo anterior la corrección es -0,01 mm. - Como el error PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 8 del instrumento: Valor indicado - Valor de referencia. Para el ejemplo anterior, el error es 0,01 mm. El laboratorio puede informar los resultados de cualquiera de las dos maneras, siempre que al usuario le quede claro cuál de los dos términos es el informado. A veces, la corrección es más conveniente pues, cuando el instrumento está en servicio, la corrección en el punto calibrado debe sumarse algebraicamente al valor leído (en vez de restar) para obtener el valor correcto. PROCEDIMIENTOS DE REFERENCIA La verificación de la trazabilidad de los resultados de un método analítico se lleva a cabo mediante la comparación con una referencia. Desde un punto de vista metrológico, la mejor referencia posible la constituye los métodos definitivos o absolutos. [RIU, 2001] Sin embargo, el hecho de que para ser considerados como tales deban ser aplicados en rigurosas condiciones de garantías de calidad, junto con su reducido ámbito de aplicación, hace que los métodos definitivos sean una referencia poco utilizada para verificar la trazabilidad de los resultados analíticos. Desde un punto de vista práctico, la mejor referencia posible la constituyen los materiales de referencia certificados (MRC), en inglés CRM (certified reference materials). Antes de entrar en los materiales de referencia certificados, primero tenemos que definir qué es un material de referencia (MR). Un material de referencia, según la guía ISO 30 [ISO, 1992], es un “material o sustancia que tiene una o varias de sus propiedades suficientemente bien establecidas para calibrar un aparato o instrumento, validar un método analítico, o asignar valores a un material o sistema”. Un material de referencia certificado [ISO, 1992], es un “material de referencia que tiene certificados uno o varios de sus valores de una o más de sus propiedades por procedimientos técnicamente válidos llevados a cabo por un organismo competente’. La principal diferencia entre un MR y un MRC es el certificado asociado al MRC emitido por un organismo competente. Veremos que no se trata ‘únicamente’ de un certificado, sino que este certificado garantiza que un MRC sea, desde un punto de vista práctico, la mejor referencia posible en la verificación de la trazabilidad de un método analítico. PROPIEDADES DE LOS MATERIALES DE REFERENCIA CERTIFICADOS Para que un cierto material pueda ser considerado como un MRC, tiene que cumplir una serie de propiedades. Las más importantes son: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 9 - Trazabilidad. El MRC debe ser trazable a patrones de referencia nacionales o internacionales. Esto debe quedar perfectamente reflejado en el certificado que aporte el organismo productor. - Homogeneidad. Éste es un requisito indispensable, y significa que un MRC ha de presentar el mismo valor de la propiedad certificada dentro de una misma unidad y entre todas las unidades del MRC. - Estabilidad. El material debe ser estable durante las condiciones de envío, y el usuario debe conocer durante cuánto tiempo permanece estable el MRC desde su recepción y desde que se abre el recipiente [ISO, 2000a]. - Similitud con las muestras reales. El MRC ha de ser lo más parecido posible, tanto en la composición de la matriz como en el valor de la propiedad a determinar, a las muestras reales que serán posteriormente analizadas con nuestro método analítico. - Incertidumbre. Los valores certificados de la propiedad deseada en el MRC deben ir acompañados por sus valores de incertidumbre. El nivel de incertidumbre asociado también informa de la calidad de un MRC en concreto. Es importante que el usuario verifique que la incertidumbre del MRC sea adecuada a sus necesidades. En la Figura 1 aparecen como ejemplo los valores certificados, junto con la incertidumbre asociada, de diversos aminoácidos en el MRC2387 del NIST, correspondiente a mantequilla de cacahuete. FUENTE: www.quimica.urv.es/quimio/general/crms.pdf FIGURA 2. VALORES CERTIFICADOS DE DIVERSOS AMINOÁCIDOS EN EL MRC 2387 DEL NIST PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 10 LECCIÓN 2 METROLOGÍA EN COLOMBIA En Colombia la metrología esta supervisada por la Superintendencia De Industria Y Comercio. La Superintendencia de Industria y Comercio es una entidad de carácter nacional adscrita al Ministerio de Comercio Industrial y Turismo y tiene entre sus funciones la de acreditar y supervisar a los organismos evaluadores de la conformidad – OEC (organismos de certificación, inspección, laboratorios de ensayo y calibración), que hacen parte del Sistema Nacional de Normalización, Certificación y Metrología, de acuerdo con las facultades conferidas en el numeral 16 del artículo 2° y 5° del artículo 17 del Decreto 2153 de 1992 y el artículo 17 literal a) del Decreto 2269 de 1993. La actividad de acreditación en la Superintendencia de Industria y Comercio la realiza la Delegatura de Protección al Consumidor a través de la División de Normas Técnicas de acuerdo a las funciones establecidas en la Resolución 3483 de 2003. Algunas de las funciones de la Superintendencia de Industria y Comercio son: Vigilar y propender por el cumplimiento de todas las disposiciones que dicte el Consejo Nacional de Normas y Calidades, relativas a Normas Técnicas y Control de Calidad, cuyo control le haya sido asignado a la Superintendencia de Industria y Comercio; Coordinar con la Oficina de Comunicaciones la divulgación de las normas técnicas que dicte el Consejo Nacional de Normas y Calidades, cuyo control y vigilancia haya sido asignado a la Superintendencia; Elaborar los proyectos de resoluciones mediante los cuales se impongan sanciones por violación a las normas en las materias de su competencia; Atender las consultas que se le formulen relativas a las áreas de su competencia; Adoptar o reconocer el uso del sello oficial de calidad o marca nacional de conformidad con normas técnicas, de acuerdo con las disposiciones que sobre el particular se expidan; Acreditar la existencia y confiabilidad del control de calidad de los productos sometidos a normas técnicas colombianas oficiales y oficiales obligatorias; PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 11 LABORATORIO DE CORRIENTE CONTINÚA Y ALTERNA El laboratorio maneja cinco (5) magnitudes: voltaje continuo, voltaje alterno, corriente continua, corriente alterna y resistencia. El laboratorio tiene tres (3) grupos de cuatro celdas de voltaje y un último grupo de cuatro (4) Zenners (Estado sólido) que mantienen de forma muy estable el valor de 1,018 V y 10 V (este último valor solo para los zenners). La trazabilidad se asegura en el exterior mediante la calibración de uno de los Zenners e internamente por método de redundancia se comparan los demás juegos de celdas y se realiza el tratamiento de los datos por el método de mínimos cuadrados. Con la salida de 10 V que entregan los Zenners se calibran el multicalibrador 5720, para que este a su vez permita realizar las calibraciones tanto internas como externas en voltaje y corriente continúa. A su vez con las resistencias que posee el laboratorio (una de 1 Ω y otra de 10 kΩ) se da trazabilidad al multicalibrador 5720 en la magnitud “Resistencia”. Los servicios del laboratorio requieren generar corriente y voltaje (multicalibrador 5720) y medir estas mismas magnitudes (Multímetro 8508/A), estos dos equipos son la columna vertebral de la trazabilidad y de los servicios del laboratorio. FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php FIGURA 3. EQUIPOS UTILIZADOS EN LA MEDICIÓN DE CORRIENTE CONTINUA Y ALTERNA LABORATORIO DE POTENCIA Y ENERGÍA ELÉCTRICA El laboratorio presta servicios de calibración a: patrones de energía, equipos probadores de medidores de energía, vatímetros, medidores de ángulo, cosenofímetros y realiza pruebas de aprobación de modelo a medidores clase 2 según normas NTC 5226 y NTC 2288. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 12 FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php FIGURA 4. EQUIPO DE MEDICIÓN DEL FACTOR DE POTENCIA El laboratorio cuenta con tres (3) equipos patrón: un comparador ZERA COM 303 de potencia y energía con límites de error de 0,01 %; un patrón ZERA TPZ 303 con límites de error 0,02 % para factor de potencia uno (1,0) y 0,04 % para factor de potencia 0,5 inductivo o capacitivo y un equipo probador de medidores de energía ZERA ED 6726 utilizada como fuente y patrón para la calibración de vatímetros, medidores de ángulo y las pruebas de aprobación de modelo, en la figura 4 se puede observar un instrumento para la medición del factor de potencia. La trazabilidad se asegura en el exterior mediante la calibración del comparador COM 303 en AC y la verificación intermedia a nivel interno de su base de tiempo y de los zenners del equipo en los laboratorios de tiempo y frecuencia y corriente continua y alterna respectivamente. El laboratorio ofrece la calibración de los equipos probadores de medidores de energía "en sitio" a solicitud del usuario, desplazando para ello, los equipos y el personal necesarios para realizar de forma competente la calibración de este tipo de equipos. LABORATORIOS DE TIEMPO Y FRECUENCIA El laboratorio maneja dos (2) magnitudes: el tiempo y la frecuencia con la magnitud eléctrica de voltaje alterno. El laboratorio tiene un resonador atómico de rubidio, un receptor GPS (Sistema Global de Posicionamiento), un oscilador de cuarzo con cámara climatizada, un contador de frecuencia y un generador de frecuencia con los cuales alcanza un rango de 1,04 GHz en generación y medición. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 13 La trazabilidad se asegura con la recepción del UTC (Tiempo Universal Coordinado) por medio del receptor GPS, con la cual se realizan mediciones diarias de fase y así determinar la desviación y estabilidad de los resonadores internos respecto al valor de tiempo internacional. Según el decreto 2153 de 1992, la Superintendencia de Industria y comercio tiene la responsabilidad de mantener, coordinar y divulgar la hora legal de la República de Colombia. Esta labor la realiza gracias al mantenimiento de los patrones expuestos y a sus medios de difusión actuales, que son emisión vía Internet en su página http://horalegal.sic.gov.co y por medio de la Universidad nacional en su emisora radial UN radio 98.5 FM. Con la salida de un pulso por segundo del GPS, se calibran tanto el oscilador atómico de rubidio como el oscilador de cuarzo. El oscilador atómico de rubidio se aplica como base de tiempo al contador y al generador para que funcionen con la exactitud del oscilador, para que este a su vez permita realizar las calibraciones tanto internas como externas en Tiempo y Frecuencia. Los servicios del laboratorio requieren generar Frecuencia (Generador SMS-2)y medir esta misma magnitud (Contador HP5345A), estos dos equipos son la columna vertebral de la trazabilidad y de los servicios del laboratorio. Algunos de los equipos utilizados se muestran en la figura 5. FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php FIGURA 5. EQUIPOS PARA MEDICIÓN DEL TIEMPO EN COLOMBIA LABORATORIO DE TRANSFORMADORES En el área de transformadores se encuentran equipos especializados para la medición de características propias de los transformadores tales como la inductancia mutua. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 14 TABLAS Y SERVICIOS DE CALIBRACIÓN EN LOS LABORATORIOS DE ELECTRICIDADDE LA SUPERINTENDENCIA DE INDUSTRIA Y COMERCIO. En las tablas 3, 4, 5 y 6 están representados los servicios que prestan los laboratorios y los parámetros de calibración utilizados para tal fin. FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php TABLA 3. LABORATORIO DE CORRIENTE CONTINUA Y ALTERNA FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php TABLA 4. LABORATORIO DE TRANSFORMADORES PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 15 FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php TABLA 5. LABORATORIO DE TIEMPO Y FRECUENCIA FUENTE: http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php TABLA 6. LABORATORIO DE POTENCIA Y ENERGÍA ELÉCTRICA PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 16 SISTEMAS DE CALIDAD EN LABORATORIOS DE CALIBRACIÓN BASADOS EN LA NORMA NTC-ISO-IEC-17025 (ISO/IEC 17025 1999) Un laboratorio de metrología debe tener los documentos pertinentes para realizar calibraciones de instrumentos de medida, lo anterior con el fin de cumplir con los numerales: 5.4 Métodos de ensayo y calibración y validación de métodos y 5.10 Reporte de resultados, establecidos en la norma técnica NTC- ISO-IEC 17025, “requisitos generales de competencia de laboratorios de calibración”. Lo anterior se cumple, mediante el empleo de los siguientes documentos: procedimientos, instructivos de trabajo, documentos técnicos y formatos. ASPECTOS FUNDAMENTALES PARA LA CALIBRACIÓN DE INSTRUMENTOS DE MEDIDA CON BASE EN LA NORMA NTC-ISOIEC- 17025 Requisitos obligatorios para todos los laboratorios. Estos requisitos aplican en cualquier tipo de laboratorios, independientemente del tipo de servicio (ensayo/calibración), del nivel organizacional (independientes o parte de otra organización), tamaño (micro, pequeña, mediana o grande), y origen de recursos (públicos o privados). No hay exclusiones para estos requisitos, los cuales deben ser cubiertos por todos los laboratorios. Ejemplos de estos requisitos: · Contar con una política de calidad; · Definir los objetivos de Calidad; · Procedimientos para el control de documentos. La documentación de los laboratorios se define de acuerdo a la pirámide de documentación de la norma ISO 10013, en la figura 6 se muestra la pirámide. Manual de Calidad Norma ISO 17025 Un manual de calidad reúne definiciones y características de procedimientos en los laboratorios de calibración, algunos de los ítems que deben tener los manuales de calidad son los siguientes: General Referencias Condiciones y Definiciones Requerimientos de Gestión PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 17 Organización ¡Error! Marcador no definido. Sistema de Gestión Control de Documentos Revisión de Pedidos, Licitaciones y Contratos Sub-Contratación de Ensayos y Calibraciones Atención al Cliente Quejas Control de Trabajo de Ensayo y/o Calibración No Conforme Mejoras Acción Correctiva Acción Preventiva Control de Registros Auditorias Internas Revisiones de Gestión Requerimientos Técnicos General Personal Instalaciones y Condiciones Ambientales Métodos de Ensayo y Calibración y Método de Validación Equipos Correlación de Medidas Muestras Manejo y Transporte de Artículos de Ensayo y/o Calibración Acreditación de la Calidad de los Resultados de Ensayo y Calibración Informe de Resultados FUENTE: NORMA IS0-10013 LA DOCUMENTACIÓN DE SISTEMAS DE GESTIÓN DE LA CALIDAD FIGURA 6. PIRAMIDE DE DOCUMENTOS ISO 10013 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 18 LECCIÓN 3 CARACTERISTICAS ESTATICAS DE LOS SISTEMAS DE MEDICIÓN El comportamiento de de un instrumento de medida, en general, se puede definir mediante la función de transferencia, que indica tanto el comportamiento en régimen estático como dinámico. El primero corresponde a la relación entre la entrada y la salida cuando la entrada es constante o cuando ha transcurrido un tiempo suficiente para que la salida haya alcanzado el valor final o régimen permanente. El segundo indica la evolución del sistema hasta que la salida alcanza el valor final ante una variación en la entrada. Una función de transferencia que recogiese con rigurosidad ambos comportamientos resultaría tremendamente compleja por lo que, en la práctica, suelen estudiarse por separado mediante una serie de parámetros. En este punto se estudiarán las principales características estáticas. Estamos suponiendo que la variable a medir no se ve afectada por el sistema de medida. Esto no siempre es así, por ejemplo si medimos la temperatura de un dispositivo mediante un método que afecte a dicha temperatura, estamos cometiendo un error en la medida. Por lo tanto además de las características estáticas y dinámicas habrá que considerar el efecto de carga que el método de medida introduce. La curva de calibración de un sistema de medida en general es la línea que une los puntos obtenidos aplicando sucesivos valores de la magnitud de entrada e ir anotando los respectivos valores de salida. Los valores de entrada se determinan con un sistema de medida de calidad superior al que se está calibrando. La sensibilidad (sensitivity) es la pendiente de la curva de calibración. Interesa que la sensibilidad sea alta y, si es posible, constante. Si esta es una recta la sensibilidad es constante y se dice que es el sistema o sensor es lineal. Lo importante no es tanto el que sea lineal (ya que se de no serlo se podría linealizar) sino que la medida sea repetible, es decir, que a la misma entrada le corresponda siempre la misma salida. En el ejemplo de la figura 7 se tiene una respuesta lineal para valores de la variable de entrada menores que X0. Para valores mayores que X0, la curva de calibración se hace menos sensible hasta que alcanza un valor límite para la señal de salida. Este comportamiento se conoce como saturación, por lo que no sería adecuado su empleo para medir valores mayores que su valor de saturación. Es normal que los puntos no estén localizados exactamente sobre la línea, por el contrario, se localizarán a cualquier lado de ella. La magnitud de las excursiones de los puntos a la línea PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 19 dibujada dependerá de la magnitud de los errores aleatorios de la medición que están asociados con los datos. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 7. CURVA DE CALIBRACIÓN Para definir la curva de calibración adecuadamente se necesita como mínimo indicar su forma y sus límites. Estos últimos se especifican con algunos de los siguientes parámetros: Campo o margen de medida (range): es el conjunto de valores comprendidos entre los límites superior e inferior entre los cuales de puede efectuar la medida. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 8. MARGEN DE MEDIDA Y ALCANCE PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 20 Alcance o fondo de escala (span, input full scale): es la diferencia entre los valores máximo y mínimo de la variable que se pueden medir de forma fiable. No confundir este término con el límite superior de medida, ya que solo coinciden si el límite inferior es cero. También se conoce como margen dinámico, aunque, empleado en este contexto puede resultar algo confuso ya que no describe una característica dinámica. Salida a fondo de escala (output full scale): es la diferencia entre las salidas para los extremos del campo de medida. Precisión (precisión): es el grado de concordancia entre los resultados. También se suele encontrar con el nombre de fidelidad. Una indicación de la precisión de una medidaes mediante el número de cifras significativas con las que se expresa un resultado. Por ejemplo si el valor de una tensión es de 5,0 V, el número de cifras significativo es dos. En el caso de un instrumento digital se habla de número de dígitos significativos. En los cálculos hay que tener cuidado de no expresar el resultado con más cifras significativas que las de los números empleados en dichos cálculos. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 9. PRECISIÓN Y EXACTITUD Exactitud (accuracy) es el grado de concordancia entre el valor exacto (“real”, “verdadero”) de la entrada y el valor medido. Se suele expresar como un porcentaje del fondo de escala. La exactitud nos está indicando el máximo error que puede existir en la medición, por lo que en realidad debería hablarse de PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 21 inexactitud más que de exactitud. En algunas ocasiones se utiliza, con el mismo significado, la frase incertidumbre de la medición. Es frecuente oír hablar indistintamente de precisión y exactitud, aunque, como hemos visto, la diferencia entre ambos es bien significativa. Los términos repetibilidad y reproducibilidad tienen un significado muy parecido, aunque se aplican en diferentes contextos. Repetibilidad: se refiere grado de concordancia entre los resultados de mediciones sucesivas del mismo mesurando, realizadas bajo las mismas condiciones de medida. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 10. LA LINEALIDAD Reproducibilidad: grado de concordancia entre los resultados de mediciones sucesivas del mismo mesurando, realizadas bajo diferentes condiciones de medida. Las medidas pueden realizarse a largo plazo o por personas distintas o con distintos aparatos o en distintos laboratorios. Las características anteriores se definen cuantitativamente, como el valor por debajo del cual se encuentra, con una probabilidad especificada, el valor absoluto de la diferencia entre dos resultados individuales obtenidos en las PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 22 condiciones anteriores. Si no se dice lo contrario, la probabilidad que se toma es del 95%. Resulta deseable que la lectura de salida de un instrumento sea linealmente proporcional a la cantidad que se mide. La linealidad se define como la máxima desviación de la curva de calibración con respecto a una línea recta determinada por la que se ha aproximado. Habitualmente se suele expresar en forma porcentual con respecto al alcance. También se conoce como no linealidad o error de linealidad. La linealidad expresa hasta que punto es constante la sensibilidad del sensor. El interés de la linealidad está en que la conversión lectura-valor medido es más fácil si la sensibilidad es constante, pues entonces basta multiplicar la indicación de salida por un factor constante para conocer el valor de la entrada. Actualmente, con la posibilidad de incorporar un microprocesador en los sistemas de medida, interesa más la repetibilidad que la linealidad, pues siempre es posible crear una tabla conteniendo los valores de entrada que correspondan a los valores de salida detectados. Mediante una interpolación adecuada, es posible reducir el tamaño de dicha tabla. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 11. LAS LINEALIDADES Según que línea recta que se utilice para aproximar la curva de calibración se habla de: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 23 Linealidad independiente: la línea de referencia se define por el método de los mínimos cuadrados. De esta forma el máximo error positivo y el mínimo error negativo son iguales. Es la forma de especificación que suele dar mejor resultados. Linealidad ajustada al cero: la recta se define también por el método de los mínimos cuadrados, pero con la restricción adicional de pasar por cero. Linealidad terminal: la recta se define por la salida sin entrada y la salida teórica máxima, correspondiente a la mayor entrada admitida. Linealidad a través de los extremos: la recta se define mediante la salida real cuando la entrada es la menor del alcance especificado, y la salida real cuando la entrada es la máxima del alcance especificado. Los principales factores que influyen en la linealidad son: la resolución, el umbral y la histéresis: Linealidad independiente: la línea de referencia se define por el método de los mínimos cuadrados. De esta forma el máximo error positivo y el mínimo error negativo son iguales. Es la forma de especificación que suele dar mejor resultados. Linealidad ajustada al cero: la recta se define también por el método de los mínimos cuadrados, pero con la restricción adicional de pasar por cero. Linealidad terminal: la recta se define por la salida sin entrada y la salida teórica máxima, correspondiente a la mayor entrada admitida. Linealidad a través de los extremos: la recta se define mediante la salida real cuando la entrada es la menor del alcance especificado, y la salida real cuando la entrada es la máxima del alcance especificado. Los principales factores que influyen en la linealidad son: la resolución, el umbral y la histéresis La resolución de un dispositivo es el mínimo incremento de la entrada que ofrece un cambio medible en la salida. Se suele expresar como un valor en tanto por ciento sobre el fondo de escala. Cuando el incremento de la entrada se produce a partir de cero, se habla de umbral. En los sensores con formato de salida digital la resolución se expresa en bits. En los instrumentos con salida digital la resolución puede expresarse como dígitos o número de cuentas. Por ejemplo un multímetro de 4 ½ dígitos tiene una resolución de 1 parte en 20000 cuentas (00000 a 19999). La terminología ½ dígito significa que el dígito más PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 24 significante tiene menor valor que un rango completo de 0 a 9. Como norma general ½ dígito significa que el dígito más significativo puede tener los valores 0 ó 1. La resolución de un sensor, no es en general, un factor limitante en aplicaciones industriales, por cuanto siempre es posible disponer de una etapa amplificadora de forma que se puedan percibir pequeños cambios de la entrada. El factor último que limita la resolución es el ruido eléctrico. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 12. RESOLUCIÓN La histéresis se define como la máxima diferencia en la medida dependiendo del sentido en el que se ha alcanzado. Las causas típicas de histéresis son la fricción y cambios estructurales en los materiales. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 13. CICLO DE HISTERESIS LECCIÓN 4 ERRORES Y TIPOS DE ERRORES EN LA MEDICIÓN PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 25 Un principio básico de todo sistema de instrumentación electrónica es el de medir una magnitud con el mínimo error posible. Sin embargo, siempre existe un grado de incertidumbre puesto que es imposible realizar una medición sin modificar en mayor o en menor grado aquello que se mide. Además, las variables incontroladas, entre ellas el ambiente, el envejecimiento de los componentes, el ruido, etc., añaden nuevos errores. Distinguiremos tres tipos de errores en la medida de la magnitud física: Aberrantes: suelen deberse a defectos en los aparatos de medida o a equivocaciones del observador al leer o escribir las indicaciones de aquellos, o a variaciones bruscas en las condiciones en que se mide. Los resultados de las mediciones correspondientes a estos errores deben rechazarse. Sistemáticos: son aquellos que si la misma magnitud se mide muchas veces, se mantienen constantes o varían según una ley determinada. En los erroressistemáticos se incluyen los errores metódicos y los instrumentales. Los primeros son ocasionados por defectos del método de medición que se utiliza o por la inexactitud en la fórmula de cálculo. Los errores instrumentales son debidos a la imperfección del diseño y a la inexactitud en la fabricación de los aparatos de medida. Aleatorios o accidentales: aquellos cuya magnitud absoluta o signo varían al medir muchas veces una misma magnitud física. Se deben a variaciones imprevisibles en el proceso de medida, tanto en las condiciones físicas (temperatura, presión, humedad, etc.) como en el comportamiento del experimentador (equivocaciones en la toma de datos, etc.). La mejor estimación del valor medido es el valor medio. Se puede reducir su influencia repitiendo muchas veces las mediciones, produciéndose una compensación parcial de los errores. Efecto de carga del circuito de medición. La transferencia de tensión o de corriente de un sistema ha otro debe hacerse sin pérdida de información. Sin embargo el valor de la impedancia de salida de la señal y la impedancia de entrada del sistema dan lugar a una atenuación de la señal. • Proceso de medición. El proceso de medición perturbará siempre al sistema que se está midiendo. La magnitud de la perturbación varía de un sistema de medición a otro, y se ve afectada especialmente por el tipo de instrumento de medición que se utiliza. • Condiciones ambientales. Las características estáticas y dinámicas se especifican para condiciones ambientales particulares, p.e. de temperatura y PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 26 presión. La magnitud de esta variación se cuantifica por medio de la deriva de la sensibilidad y la deriva del cero (offset). • Ruido periódico. Este ruido es provocado por la interferencia que produce la proximidad del sistema de medición a equipos o cables que conducen la corriente y se alimentan de la red eléctrica. • Envejecimiento. La aparición de errores sistemáticos después de cierto período de tiempo es absolutamente normal, esto se debe al envejecimiento de los componentes del instrumento. Se requiere una recalibración. • Puntas de prueba. Es importante que tengan la sección transversal adecuada para minimizar su resistencia, e incluir el blindaje adecuado en caso de que se sometan a la acción de campos eléctricos y magnéticos que puedan inducir señales de ruido en ellas. • F.e.m. térmica. Siempre que se conectan dos metales diferentes se genera una f.e.m. térmica que varía de acuerdo con la temperatura de la unión (efecto termoeléctrico). Estas f.e.m térmicas son de unos cuantos mV y, por ello, su efecto será significativo siempre que las señales de medición tengan una magnitud similar. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 14. RUIDO INTERNO E INTERFERENCIAS ELECTROMAGNETICAS La consecuencia final de la presencia de errores de uno u otro tipo, o de ambos, es una discrepancia entre el resultado de la medida y el verdadero PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 27 valor absoluto. La diferencia entre ambas cantidades se denomina error absoluto. Algunas veces se da en forma de porcentaje respecto al valor máximo de la lectura que puede dar el instrumento en la escala considerada. Se habla entonces de errores a fondo de escala. En cambio, el cociente entre el error absoluto y el verdadero valor de la magnitud medida se denomina error relativo, y suele expresarse en tanto por ciento. Para poder comparar entre si distintos sensores (o instrumentos de medida) en cuanto a su exactitud, se introduce la denominada “clase de precisión”. Todos los sensores de una misma clase tienen un error en la medida, dentro de su alcance nominal y en unas condiciones establecidas, que no supera un valor concreto, denominado “índice de clase”. Este error de medida porcentual referido aun valor convencional que es el valor superior de dicho alcance. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 15. MAGNITUDES DEL ERROR Como hemos dicho los errores aleatorios son debidos a variaciones impredecibles en el sistema de medida. Se pueden reducir calculando el valor medio de un número repetido de medidas. El grado de confianza en valor medio calculado puede ser cuantificado calculando la desviación estándar o la varianza de los datos. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 28 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 16. ANALISIS ESTADISTICO DE LA MEDIDAS En realidad en la fórmula matemática de la varianza aparece n en lugar de (n- 1). Esta diferencia se debe a que la definición matemática corresponde a un conjunto infinito de datos, en tanto que el caso de las mediciones siempre estamos interesados en conjuntos de datos finitos, por lo que el empleo de (n- 1) en el denominador produce un valor de la desviación estándar que estadísticamente es más cercano al valor correcto. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 17. DISTRIBUCIÓN NORMAL DE UNA MEDIDA PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 29 La mayor parte de los conjuntos de datos de medición se ajustan a una curva de distribución normal o gaussiana debido a que, si los errores son realmente aleatorios, ocurren pequeñas desviaciones del valor de la media mucho más a menudo que las desviaciones mayores, es decir, el número de errores pequeños es mucho más grande que el de los grandes. Se puede demostrar que para una distribución normal, el 68% de las mediciones tienen errores que se encuentran dentro de los límites de ±σ, el 95,4% dentro del límite de error ±2σ y el 99,7% de las medidas en el ±3σ. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 18. ERROR TOTAL Si una medida está afectada tanto por errores sistemáticos como aleatorios que son cuantificados como ±a (errores sistemáticos) y ±b (errores aleatorios), se requiere alguna forma de expresar el efecto combinado de ambos tipos de errores. Una forma es sumar los dos componentes del error, con lo que el error total sería e=±(a+b). Con esta forma de proceder los resultados pueden ser muy conservadores. Es más habitual expresar el error como una suma cuadrática: Se está suponiendo que las fuentes de error son independientes, cosa que no siempre es cierta. El número de dígitos o cifras significativas que debemos emplear para representar el valor de una magnitud física, así como su error, viene condicionado por la precisión con que es conocida. La medida y el error absoluto se redondean de acuerdo con las siguientes reglas figura 19. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 30 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 18. REGLAS DE LOS ERRORES FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 19. ERRORES EN LAS MEDIDAS INDIRECTAS PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 31 Llamamos medida indirecta a aquella que obtenemos a partir de otras medidas, directas o indirectas mediante alguna expresión matemática. En general, sea la magnitud física y, que depende de n magnitudes x1, x2, …,xn: y = f(x1, x2, …,xn). De cada una de estas magnitudes, xi, conocemos su valor medio y su error absoluto, xi = xm±Δxi. El valor medio de la medida indirecta es: ym = f(x1m, x2m, …,xnm). El error absoluto se obtiene diferenciando la función. Si los errores son suficientemente pequeños, se pueden sustituir las diferenciales por incrementos, obteniéndose: Δy, Δx1, Δx2,… son los errores absolutos de las medidas. Las derivadas parciales se calculan en los puntos xi = xim y se toman en módulos para que todos los errores se sumen. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD –JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 32 LECCIÓN 5 MEDICIÓN DE LAS SEÑALES ELÉCTRICAS La instrumentación electrónica se encarga de la captación y medida de magnitudes físicas. La información (datos) de una determinada magnitud física se denomina variable. Cuando esta información es de naturaleza eléctrica, la variable se denomina señal. Las señales pueden ser clasificadas atendiendo a diferentes criterios: Señales analógicas: no tienen cuantificación en el parámetro de información. Señales discretas: debido a la cuantificación, la información solo puede tomar un número finito de valores. En las señales dependientes del tiempo, el parámetro de información puede cambiar en cualquier instante (señales continuas) o bien los cambios solo son posibles en instantes de tiempo discretos, debido a la cuantificación de tiempo. Un caso de especial importancia son las señales binarias, las cuales solo pueden tomar dos valores de amplitud discretos, 0 y 1. Las señales digitales solo pueden tomar dos valores de amplitud discretos en instantes concretos. Señales deterministas: se conoce el comportamiento completo de la señal, incluso su comportamiento futuro. Por ejemplo señales de test como la función impulso o la función escalón. Señales no deterministas: se desconoce su comportamiento. Si son descritas por una distribución de probabilidad, se denominan señales estocásticas. Según la configuración de los terminales de la señal, están pueden ser: Unipolares: se tienen entre un terminal y otro de referencia. El terminal de referencia puede estar conectado a tierra o ser independiente de tierra (señal unipolar flotante). Si entre el terminal de referencia y tierra existe una tensión se dice que es una tensión en modo común y no se puede conectar a tierra ninguno de los terminales de la señal; la impedancia equivalente del generador de modo común puede tener valores muy dispares según el caso. Un termopar conectado a la carcasa de una turbina de vapor para medir la temperatura ofrece una señal unipolar puesta a tierra por estarlo la turbina. El mismo termopar pero encerrado dentro de una vaina de acero y aislado de ella ofrece una señal, en principio, flotante. Si en vez de estar montado sobre la turbina lo está sobre un cable de alta tensión, esta tensión aparece en modo PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 33 común a los terminales del termopar, y en serie con una impedancia (alta) determinada por el acoplamiento capacitivo entre el cable y tierra. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 19. TIPOS DE SEÑALES Bipolares o diferenciales: se tienen entre dos terminales que son independientes del terminal de referencia, el cual puede estar o no conectado a tierra. La impedancia entre cada uno de los dos terminales de señal y el de tierra es similar. La polaridad con que se tomen las señales es irrelevante: solo cambia el signo. Hay también tres posibilidades: señal diferencial puesta a tierra, flotante o con tensión de modo común, que es lo más frecuente. El punto de referencia para las señales flotantes, o uno cualquiera de los terminales de señal, puede conectarse a tierra; para las señales con tensión de modo común, no se puede conectar a tierra ningún terminal, ni siquiera el de referencia. Se puede, sin embargo, invertir la polaridad de la salida. Las señales diferenciales se distinguen porque las diferencias de potencial respectivas entre cada terminal y el de referencia varían simultáneamente en la misma magnitud pero en sentido opuesto. Sin embargo, muchas veces se emplea un circuito equivalente como el de la figura inferior derecha, donde esta propiedad no queda patente; obsérvese que aquí el terminal C no coincide con el punto C de la figura inferior izquierda. Obviamente, mientras una señal unipolar puede darse con dos terminales, una señal diferencial necesita siempre al menos tres terminales para su representación: alto (A), bajo (B) y común (C). PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 34 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 20. SEÑALES UNIPOLARES FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 21. SEÑALES DIFERENCIALES PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 35 Las señales se pueden clasificar también atendiendo al valor de su impedancia de salida, Z0. Si lo que se quiere medir es una tensión se puede ver con facilidad que la impedancia de entrada del dispositivo de medida Zi debe ser mucho mayor que la de salida, sino se quiere que la señal resulte atenuada. En cambio si lo que se desea medir es una corriente la situación es la contraria: la impedancia de entrada ha de ser mucho menor que la de salida de la señal. Si lo que se desea es transmitir la máxima potencia de un elemento al siguiente y como suele ser habitual las impedancias son resistivas, la resistencia de entrada y de salida deben ser iguales (teorema de la máxima transferencia de energía). FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 22. SEÑALES DE ALTA Y BAJA IMPEDANCIA DE SALIDA EJEMPLO DE UNA SEÑAL DIFERENCIAL - EL ENLACE RS-485 El enlace RS-485 es, en realidad, una simplificación del enlace RS-422 empleando un único par trenzado para un enlace XON-XOFF (Son enlaces en los que existe solo líneas de datos y a lo sumo una línea de cero de señal.), semidúplex. Desde el punto de vista físico, el hecho de que el enlace sea semidúplex permite utilizar una sola línea de transmisión para transmitir y recibir los datos, aunque requiere un software de control de enlace (Nivel OSI 2) que haga conmutar la línea según que el terminal deba transmitir o recibir datos, el esquema del principio del enlace puede verse en la figura 1, donde se PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 36 han dibujado deliberadamente en el interior de cada terminal un transmisor y receptor análogo. FUENTE: AUTOMATAS PROGRAMABLES Joseph Balcells – José Luís Romeral FIGURA 23. RS -485: ENLACE PUNTO A PUNTO RS- 485 Las características del enlace en cuanto a niveles lógicos, distancias máximas y velocidades de transmisión en enlaces punto a punto son: Niveles de tensión: 5 y 6 V a circuito abierto, para el nivel lógico uno y 0V para el nivel lógico cero. Distancias: 1200 a 1500 m Tasa de Transmisión: 2400 a 19200 baudios. El enlace RS-485 admite y suele emplearse en una topología en bus según muestra la figura 2, obsérvese que la topología no implica que el enlace lógico no pueda ser de tipo anillo, estrella u otro. En la conexión en red, el número máximo de terminales conectados suele estar limitado a 32 por razones de carga; sin embargo puede admitirse un número mayor de terminales o mayores distancias de enlace utilizando repetidores o amplificadores de bus. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 37 FUENTE: AUTOMATAS PROGRAMABLES Joseph Balcells – José Luís Romeral FIGURA 24. ENLACE DE RED MEDIANTE EL BUS RS- 485 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 38 CAPÍTULO 2 TEORÍA DE LOS CIRCUITOS DE MEDICIÓN ANÁLOGA LECCIÓN 1 SENSORES Y TRANSDUCTORES Un transductor es un dispositivo capaz de transformar o convertir un determinado tipo de energía de entrada, en otra diferente de salida. El nombre del transductor ya nos indica cual es la transformación que realiza, aunque no necesariamente la dirección de la misma. Es un dispositivo usado principalmente en las ciencias eléctricas para obtener la información de entornos físicos y conseguir (a partir de esta información) señales o impulsos eléctricos o viceversa.Un sensor es un dispositivo que detecta, o sensa manifestaciones de cualidades o fenómenos físicos, como la energía, velocidad, aceleración, tamaño, cantidad, etc. Podemos decir también que es un dispositivo que aprovecha una de sus propiedades con el fin de adaptar la señal que mide para que la pueda interpretar otro elemento. Como por ejemplo el termómetro de mercurio que aprovecha la propiedad que posee el mercurio de dilatarse o contraerse por la acción de la temperatura. Muchos de los sensores son eléctricos o electrónicos, aunque existen otros tipos. Un sensor es un tipo de transductor que transforma la magnitud que se quiere medir, en otra, que facilita su medida. Pueden ser de indicación directa (e.g. un termómetro de mercurio) o pueden estar conectados a un indicador (posiblemente a través de un convertidor analógico a digital, un computador y un display) de modo que los valores sensados puedan ser leídos por un humano. Los sensores se pueden clasificar atendiendo a diversos criterios: a) Según el aporte de energía Activos: necesitan para su funcionamiento de una fuente de energía auxilia (p.eJ termistores). Se empelan principalmente para medir señales débiles. Su sensibilidad se puede modificar a través de la señal de alimentación. Pasivos: no requieren la presencia de una fuente de energía auxiliar para funcionar. Por ejemplo los termopares producen directamente una tensión de salida proporcional a la temperatura. b) Según la magnitud medida: sensores de temperatura, presión, caudal, humedad, posición, velocidad, aceleración, fuerza, par, etc. Esta clasificación PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 39 es la más extendida en los libros de instrumentación. Sin embargo tiene el inconveniente de la gran variedad de sensores. c) Según el parámetro variable: resistivos, capacitivos, inductivos, magnéticos, ópticos, etc. Según este criterio se reduce el número de tipos de sensores. Además los sensores de un mismo parámetro variable suelen compartir la circuitería de acondicionamiento. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 25. SEÑSORES TÍPICOS UN TRANSDUCTOR UTILIZADO PARA LA MEDICIÓN EL GALVANOMETRO DE D’ARSONVAL La base del funcionamiento del galvanómetro se aplica a instrumentos modernos de medición; la estructura fundamental del galvanómetro de D’Arsonval consta de un mecanismo de bobina – móvil e imán permanente (PMMC), como se muestra en la figura 26. Tal como se observa en la figura el galvanómetro consta de un imán permanente con forma de herradura el cual tiene una bobina suspendida en el campo magnético. La ubicación de la bobina es tal que cuando fluya una corriente por la bobina se desarrolle un par electromagnético (EM), y esta pueda girar libremente. Se cuenta además con unos resortes de control sujetos a la bobina móvil; el par magnético de estos resortes contrarrestan el par electromagnético de la bobina. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 40 En el momento en que se tenga el equilibrio de los 2 pares, una aguja de deflexión nos indicará con respecto a una referencia fija la posición de la bobina móvil. La referencia fija que se toma se conoce como escala. El par desarrollado se expresa entonces por: T = B x A x I x N Donde: T = par (Newton - metro N-m) B = densidad de flujo en el entrehierro [Webers / metro cuadrado (teslas)] A = área efectiva de la bobina (m²) I = corriente en la bobina móvil [ampere (A)] N = número de vueltas de alambre en la bobina FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 26. EL MOVIMIENTO DE D’ARSONVAL El par que se desarrolla será directamente proporcional a la densidad de la bobina, el área de la bobina y el número de vueltas, estos tres elementos son PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 41 constantes para cada instrumento en particular, se tiene entonces que el par nos indicara en forma directa la corriente en la bobina. Mecanismos de amortiguamiento 1. Amortiguamiento mecánico: es causado por el movimiento de la bobina a través del aire que la rodea. También se produce por la fricción del movimiento en los cojinetes y la flexión de los resortes de suspensión. 2. Amortiguamiento electromagnético: es producido por los efectos inducidos en una bobina móvil a medida que gira en el campo magnético, teniendo en cuenta que la bobina forma parte de un circulo eléctrico cerrado. Los galvanómetros pueden ser amortiguados al conectar una resistencia a través de una bobina. Al girar la bobina en el campo magnético, se genera un voltaje entre sus terminales, produciéndose entonces una corriente que circula a través de la bobina y la resistencia externa. Ocasionando un par opuesto y retardador que amortigua el movimiento del elemento móvil. Esta resistencia se denomina resistencia externa de amortiguamiento crítico (CRDX). Al tener un menor valor de esta resistencia, mayor será el par de amortiguamiento. EL MOVIMENTO DE D’ARSONVAL El movimiento del mecanismo de bobina – móvil e imán permanente (PMMC), es el movimiento de D’Arsonval. El instrumento de la figura 1 está formado por un imán permanente en forma de herradura, unido a el se tiene piezas polares de hierro dulce, la función de estas piezas es proveer un campo magnético uniforme. La aguja que esta sujeta a la bobina nos indicará la deflexión angular (por consiguiente la corriente que circula por la bobina). El instrumento cuenta además con dos resortes conductores de fósforo – bronce cuyo comportamiento constante mantiene la exactitud del instrumentó. Al aplicar una corriente alterna de frecuencia baja, la deflexión de la aguja subirá en la escala durante medio ciclo de la onda de entrada y bajará (en dirección opuesta), en el otro medio ciclo. A una frecuencia más alta, la aguja no podrá seguir las variaciones rápidas en su dirección y vibraría ligeramente alrededor del cero, buscando el valor promedio de la señal alterna (que es igual a cero). El instrumento será entonces ineficiente para medida de frecuencias altas, solo será útil si se rectifica la corriente antes de aplicar a la bobina. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 42 El desarrollo de nuevos materiales magnéticos permite tener imanes que sirven como núcleo los cuales son insensibles a campos magnéticos externos, suprimiendo los efectos de interferencia magnética. En aplicaciones donde varios instrumentos estén en espacios reducidos se emplea el auto blindaje en los núcleos magnéticos. FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 27. EL GALVANOMETRO DE D’ARSONVAL Suspensión banda – tensada Normalmente era usado en laboratorios, principalmente, donde era necesaria una alta sensibilidad, se buscaba reducir al máximo la fricción entre los pivotes y joyas. En esta configuración el galvanómetro de suspensión debe ser usado en posición vertical, si se tiene una desviación en los ligamentos de bajo par, el sistema movió podrid hacer contacto con elementos estáticos del mecanismo en cualquier otra posición. Los instrumentos de suspensión banda-tensada se pueden construir con mayor sensibilidad que los que usan pivotes y joyas, tienen además la ventaja de ser insensibles a golpes y temperaturas., y soportan mayores sobrecargas. LECCIÓN 2 EL AMPERIMETRO DE CORRIENTE DIRECTA (DC) PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 43 EL RESISTOR DE DERIVACIÓN El devanado que tiene la bobina en el galvanómetro es de tamaño limitado, por tal razón puede conducir entonces solo corrientes muy pequeñas.Para corrientes mayores se necesita desviar la mayoría de la corriente por una resistencia conocida como de derivación. FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 27. AMPERÍMETRO DE CD CON RESISTENCIA DE DERIVACIÓN De la figura: Rm: Resistencia interna de la bobina Rs = Resistencia de derivación Im = corriente de deflexión a plena escala del movimiento Is = corriente de derivación I = corriente a plena escala del amperímetro incluyendo la de derivación Esta resistencia puede consistir de un alambre de resistencia o puede ser una derivación externa (manganina o costantain) con una resistencia muy baja. Normalmente se emplean derivadores externos de este tipo para medir corrientes muy grandes. El diseño de un amperímetro DC capaz de medir corrientes dentro de un rango específico, se basa en la utilización de un divisor de corriente, como el mostrado en la Figura 28 En el nodo A la corriente i se divide en dos: i1 e i2. Por ley de Kirchhoff se tiene que cumplir: i = i1 +i2 Además PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 44 VAB = i1R1 = i2R2 FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 28. DIVISOR DE CORRIENTE De las dos ecuaciones anteriores podemos deducir las siguientes relaciones: Vamos a aplicar este principio a nuestro diseño. Supongamos que disponemos de un galvanómetro cuya corriente máxima es Im y cuya resistencia interna es Ri, y queremos construir con él, un amperímetro capaz de medir una corriente I, donde I>Im. Si colocamos el galvanómetro en una de las ramas de un divisor de corriente, obtenemos la configuración mostrada en la Figura 29. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 29. GALVANOMETRO EN DIVISOR DE CORRIENTE Donde: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 45 Por lo tanto: Para diseñar un amperímetro capaz de medir corrientes entre 0 e I Amp. A partir de un galvanómetro cuya corriente máxima es Im y cuya resistencia interna es Ri, conectamos en paralelo con dicho dispositivo una resistencia de valor R1, calculado de tal forma que cuando la corriente incidente en el instrumento sea I, la que circule por el galvanómetro sea Im. Con esto obtenemos un instrumento cuya corriente máxima es I y cuya resistencia interna es Ri en paralelo con R1. Forma de conexión Para que un amperímetro DC indique el valor de una corriente, debe circular por él dicha corriente, por lo tanto debemos conectar el amperímetro en serie dentro del circuito en el que deseamos realizar la medición, con la polaridad correcta. Por ejemplo, si queremos determinar la corriente que circula por el circuito mostrado en la Figura 30, debemos conectar el amperímetro de la forma indicada en la Figura 31. Antes de conectar un amperímetro en un circuito debemos estimar el valor aproximado de la corriente que circula por el mismo, ya que en caso de que ésta sea superior a la máxima corriente que puede detectar el instrumento, podemos dañarlo. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 30. CIRCUITO BAJO MEDICIÓN PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 46 FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 31. CONEXIÓN DEL AMPERÍMETRO EN EL CIRCUITO BAJO MEDICIÓN Otro factor que debemos tener en cuenta al conectar un amperímetro es el valor de su resistencia interna. Si dicho valor es comparable o mayor que el de las resistencias del circuito, la introducción del instrumento altera en forma apreciable el valor de la resistencia total y por lo tanto el de la corriente, por lo que la medida realizada de esta forma se aleja mucho del valor que tenía la corriente antes de introducir el instrumento en el circuito. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 32. CIRCUITO CON RESISTENCIAS COMPARABLES A LA DEL AMPERÍMETRO FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 33. AMPERÍMETRO EN EL CIRCUITO ANTERIOR PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 47 Por ejemplo, si en el circuito mostrado en la Figura 32, donde i = 1 A, introducimos un amperímetro cuya resistencia interna es de 5, como se indica en la Figura 33, el amperímetro indicará 0.5 A, ya que la resistencia total del circuito se duplica debido a la introducción del instrumento. Este es uno de los errores de medición que debemos evitar, como discutimos anteriormente. DERIVACIÓN DE AYRTON Si queremos diseñar un amperímetro de varias escalas, para cada una de ellas tendremos que calcular la resistencia que debemos colocar en paralelo con el galvanómetro. La configuración más simple de este instrumento es la mostrada en la Figura 34. FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 34. AMPERÍMETRO CON MÚLTIPLE RANGO Este instrumento se conoce como amperímetro multirango, se ilustra en la figura 34. El circuito tiene 4 resistencias de derivación. El interruptor S es de multiposición, hace conexión antes – de - desconectar, de manera que el movimiento no se vea afectado cuando el circuito se queda sin protección, al cambio de rango. En el esquema anterior podemos observar que si queremos cambiar de escala cuando el amperímetro está conectado a un circuito, debemos desconectarlo, efectuar el cambio y luego conectarlo nuevamente, ya que si realizamos dicho cambio sin eliminar la conexión, mientras el selector esté entre dos posiciones toda la corriente circulará por el galvanómetro, y como dicha corriente es mayor que Im, probablemente dañará el instrumento. Para evitar esto podemos emplear la configuración de la Figura 35. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 48 . FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 35. CONFIGURACIÓN DE SEGURIDAD PARA EL AMPERÍMETRO DE VARIAS ESCALAS. De esta forma mientras el selector se encuentra entre dos posiciones, el galvanómetro tiene siempre una resistencia conectada en paralelo. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 36. AMPERÍMETRO DE VARIAS ESCALAS CON SELECTOR DE SEGURIDAD PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 49 Otra solución posible para el circuito de la Fig. 34 es utilizar un selector tal que si se encuentra en una posición intermedia, esté conectado simultáneamente a dos resistencias adyacentes, como podemos observar en la Figura 36. Características de un amperímetro. Las características que debemos indicar para especificar un amperímetro son: - Corriente máxima - Resistencia interna - Exactitud - Precisión - Linealidad PRECACUCIONES AL MEDIR Al realizar mediciones con amperímetros se deben tener en cuenta las siguientes precauciones. 1- Siempre conectar el amperímetro en serie con una carga que límite la corriente; ya que la resistencia interna del instrumento es pequeña y circularía una corriente muy alta que puede destruir el instrumento. 2- Tener en cuenta la polaridad correcta. Si se tiene una polaridad inversa la aguja se reflecta contra el mecanismo de tope y se puede dañar la aguja. 3- Si se utiliza un medidor con varias escalas, primero emplear la escala más alta, posteriormente disminuya la escala de corriente hasta obtener la medida adecuada. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS50 LECCIÓN 3 EL VOLTIMETRO DE CORRIENTE DIRECTA (DC) El diseño de un voltímetro DC capaz de medir voltajes dentro de un rango específico, se basa en la utilización de un divisor de voltaje, como el mostrado en la Figura 37 . FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 37. DIVISOR DE VOLTAJE En dicho circuito, a corriente que circula por ambas resistencias es la misma, por lo tanto se cumple: Pero De donde Vamos a aplicar este principio al diseño de un voltímetro. El galvanómetro tiene una resistencia interna Ri y una corriente máxima Im, debido a esto el voltaje máximo entre los extremos del mismo es Vmax = Ri Im. Si queremos diseñar un voltímetro capaz de detectar entre sus terminales voltajes hasta de E voltios (donde E>Vmax) debemos conectar en serie con el galvanómetro una resistencia R1, como se indica en la Figura 38. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 51 FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 38. GALVANÓMETRO EN DIVISOR DE VOLTAJE: VOLTÍMETRO El valor de R1 debe ser tal que: Por lo tanto: Con esta configuración tenemos un instrumento que marca máxima escala cuando el voltaje entre sus terminales es E. Conexión del voltímetro. Para que un voltímetro DC indique el valor de un voltaje, debe existir dicho voltaje entre sus terminales, por lo tanto tenemos que conectar el voltímetro en paralelo con el elemento al que queremos determinarle su voltaje con la polaridad adecuada. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 39. VOLTÍMETRO BAJO MEDICIÓN PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 52 FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 40. CONEXIÓN DE UN VOLTÍMETRO PARA MEDIR EL VOLTAJE EN R2 Por ejemplo, si deseamos medir el voltaje existente entre los terminales de la resistencia R2 del circuito mostrado en la Figura 39, debemos conectar el voltímetro como se indica en la Figura 40. Antes de conectar un voltímetro, al igual que en el caso del amperímetro, debemos estimar el valor aproximado del voltaje que vamos a medir, ya que en caso de que éste sea superior al máximo voltaje que puede detectar el instrumento, podemos dañarlo. De la misma forma, otro factor que debemos tener en cuenta al conectar un voltímetro es su resistencia interna. Si esta resistencia es del mismo orden de magnitud que aquella sobre la que vamos a conectar el voltímetro en paralelo, la introducción del instrumento afecta la resistencia total del circuito en forma apreciable, y por lo tanto altera el voltaje que deseamos medir. Por ejemplo, en el circuito de la Figura 41, el voltaje entre los extremos de R2 es de 4V. Si para medir dicho voltaje conectamos un voltímetro cuya resistencia interna sea de 400K, alteraremos significativamente la resistencia total del circuito, y la lectura del instrumento será de 2.5V. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 41. CIRCUITO CON RESISTENCIAS COMPARABLES A LA DEL VOLTÍMETRO PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 53 Voltímetro de varias escalas Para cada una de las escalas que deseamos diseñar, debemos calcular la resistencia que debemos conectar en serie con el galvanómetro. Una vez realizado este cálculo, podemos implementar el voltímetro de varias escalas utilizando una de las configuraciones presentadas en las Figuras 42 y 43. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 42. PRIMERA CONFIGURACIÓN PARA EL VOLTÍMETRO DE VARIAS ESCALAS FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 43. SEGUNDA CONFIGURACIÓN PARA EL VOLTÍMETRO DE VARIAS ESCALAS Características de un Voltímetro. Al igual que para un amperímetro, las características más importantes que es necesario especificar para un voltímetro son: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 54 - Corriente máxima - Resistencia interna - Exactitud - Precisión - Linealidad Para este instrumento está definido otro parámetro denominado característica ohmios/voltio y que algunos fabricantes llaman también sensibilidad. Vamos a analizar de dónde surge esta característica. Para diseñar un voltímetro de varias escalas, debemos calcular la resistencia que tenemos que conectarle en serie al galvanómetro para cada una de ellas. O sea, para obtener una escala que pueda indicar hasta V1 voltios, debemos conectar una resistencia R1, para tener otra que llegue hasta V2, debemos conectar R2 y así sucesivamente. Para la primera escala la resistencia interna total que presentará el voltímetro será RTl = Ri + R1, para la segunda será RT2= Ri + R2, etc. La tabla Nº 7 resume el procedimiento de diseño. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf TABLA 7. PROCEDIMIENTO DE DISEÑO DE UN VOLTÍMETRO DE VARIAS ESCALAS Como podemos observar en la tabla anterior, la relación (resistencia interna total)/(voltaje máximo de la escala) es una constante que depende del galvanómetro que estamos utilizando, ya que es igual al inverso de la corriente máxima de dicho instrumento. Esta relación se conoce con el nombre de característica ohmios/voltio ya que éstas son las unidades en que viene expresada. ¿Cuál es la utilidad de dicha característica? Observando la primera, tercera y cuarta columnas de la tabla anterior podemos deducir que si conocemos dicha característica del voltímetro y la escala que vamos a utilizar para realizar una medición determinada, podemos calcular la resistencia interna que presenta el voltímetro en dicha escala. Por ejemplo, en el circuito de la Figura 44 queremos medir el voltaje Vab con un voltímetro que tiene una característica /V de l0K/V, y cuyas escalas son lV, 5V, l0V y 50V. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 55 El voltaje que deseamos medir es de 8V por lo que la escala más apropiada es la de 10V. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 44. CIRCUITO BAJO MEDICIÓN En dicha escala el voltímetro presenta una resistencia interna de: 10Vx10K=100K, que comparada con 8Kes mucho mayor, por lo que la conexión del voltímetro no afectará mucho las variables del circuito en el que deseamos realizar la medición. Podríamos utilizar también la escala de 50V, cuya resistencia interna es de 500Kpor lo que en esta escala la conexión del voltímetro afecta aún menos el circuito bajo medición, pero en este caso la precisión de la medida sería mucho menor. Sensibilidad del voltímetro Se define la sensibilidad del voltímetro como el reciproco de la corriente de deflexión a plena escala del movimiento básico ][ 1 VI S fsd Donde: S = Sensibilidad del voltímetro (Ω/V) V = escala de voltaje, seleccionado con el interruptor de rango. fsdI : Corriente de deflexión a plena escala. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 56 LECCIÓN 4 ÓHMETRO DE CORRIENTE DIRECTA (DC) Diseño básico. Un óhmetro es un instrumento capaz de medir el valor de una resistencia cuando ésta se conecta entre sus terminales. Dado que la resistencia es un elemento pasivo, es necesario que el instrumento contenga un elemento activo capaz de producir una corriente que pueda detectar el galvanómetro incluido en dicho instrumento. Por lo tanto, el circuito básico del óhmetro es el mostrado en la Figura 45. El procedimiento de diseño básico para este instrumento es el siguiente: En primer lugar, supongamos que la bateríatiene un valor dado (es una pila de las que podemos conseguir en el mercado), por lo que el valor que debemos determinar para fijar las condiciones del circuito es el de la resistencia R. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 45. CIRCUITO BÁSICO DEL ÓHMETRO Si la resistencia incógnita es (circuito abierto) no circula corriente por el circuito, por lo tanto, en la escala del galvanómetro, Rx=corresponde a la posición de la aguja cuando la corriente es nula (usualmente el extremo izquierdo de la escala). Para cualquier otro valor de Rx circulará cierta corriente por el circuito, que será máxima cuando Rx = 0. Ahora bien, como la máxima corriente que puede circular por el galvanómetro es Im, para Rx = 0 se debe cumplir: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 57 De donde Una vez calculado este valor, el circuito está totalmente especificado. Podemos ahora calibrar la escala en ohmios utilizando resistencias patrón de distintos valores, o realizar una calibración en forma teórica, empleando la ecuación anterior. Como podemos observar, la ubicación de los valores de las resistencias en la escala es única y está totalmente definida. Si por ejemplo, obtenemos una distribución como la mostrada en la Figura 46, será muy difícil realizar mediciones de resistencias cuyos valores sean del orden de 10o de 1M. Por lo tanto para diseñar óhmetros donde podamos seleccionar por ejemplo la resistencia correspondiente a media escala, es necesario plantear nuevas configuraciones. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 46. CALIBRACIÓN DE LA ESCALA DE UN ÓHMETRO Diseño de un óhmetro con selección de la resistencia a media escala. En el circuito de la Figura 45 solo hay una incógnita: el valor de R, y por lo tanto sólo podemos imponerle una condición: Cuando la resistencia incógnita es nula, debe circular la corriente máxima por el galvanómetro. Si queremos imponerle otra condición, como por ejemplo cual debe ser el valor de la resistencia incógnita para la que el galvanómetro indicará media escala, es necesario que contemos con otra variable que podamos calcular en el circuito. Hay dos configuraciones posibles para contar con un circuito con dos incógnitas, cuyos circuitos pueden observarse en la Figura 47. Con la primera configuración, el valor de la resistencia que se le puede asignar a la posición de media escala del óhmetro (Rm) es siempre mayor que la resistencia interna del galvanómetro, ya que como se verá posteriormente, en caso contrario el valor de R resultaría negativo. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 58 Con la segunda configuración, a Rm se le pueden asignar valores tanto mayores como menores que la resistencia interna del dispositivo, dentro de los límites que se van a determinar durante el análisis de dicha configuración. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 47. CONFIGURACIONES PARA UN ÓHMETRO CON SELECCIÓN DE LA RESISTENCIA A MEDIA ESCALA. Diseño de un óhmetro con un valor a media escala específico utilizando la primera configuración. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 59 La Figura 48 presenta el circuito Thévenin equivalente de la primera configuración, en el que podemos observar los elementos equivalentes Veq y Req. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 48. THÉVENIN EQUIVALENTE DE LA PRIMERA CONFIGURACIÓN A partir de dicho circuito, podemos plantear un sistema de dos ecuaciones con dos incógnitas, imponiendo las condiciones de diseño deseadas: Cuando Rx = 0, por el circuito debe circular la corriente máxima permitida por el Galvanómetro y cuando Rx = Rm, la corriente debe ser igual a la mitad de dicha corriente máxima. Por lo tanto. Despejando los valores de Req y Veq se obtiene: De la ecuación anterior podemos concluir que la resistencia que se puede seleccionar como lectura de media escala (Rm) debe ser siempre mayor que la resistencia interna del galvanómetro (Ri) tal como se había mencionado anteriormente, ya que en caso contrario la resistencia Req tendría un valor negativo, lo cual no es físicamente posible. Una vez determinados los valores de Req y Veq, es necesario hallar los valores de V, R, R1 y R2, ya que éstos son los verdaderos componentes del PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 60 instrumento que queremos diseñar. Las relaciones entre estos parámetros son las siguientes: Como podemos observar, contamos con dos ecuaciones y cuatro incógnitas, por lo que para completar el trabajo debemos incluir dos criterios de diseño que nos ayuden a determinar el valor más adecuado para los componentes. Dichos criterios de diseño son: - Vamos a utilizar una o más pilas comerciales, cuyo valor nominal es de 1,5V. Por lo tanto, si Veq es menor que 1,5V, hacemos los cálculos con V = 1,5V, esto es, colocamos en el instrumento una sola pila; si Veq se encuentra entre 1,5V y 3V, utilizamos dos pilas, por lo que V = 3V, y así sucesivamente. Por lo general, los óhmetros no acostumbran a tener más de dos pilas. - Si en el circuito de la Figura 47(a) consideramos que la corriente que circula por el lazo donde se encuentra el galvanómetro es mucho menor que la corriente que circula por la fuente V y la resistencia R1 (IR), la corriente por R2 va a ser prácticamente igual a la de R1 y por lo tanto el voltaje sobre R2 va a ser independiente de las variaciones de Ig. Al aplicar este criterio, el valor de la resistencia R es igual a Req, ya que el paralelo de R1 y R2 va a ser mucho menor que R. La condición que debemos imponer para que la aproximación anterior sea válida es que la corriente IR sea mucho mayor que Imax, por lo menos unas 10 veces mayor, o preferiblemente más. Ahora bien, si escogemos un valor de IR excesivamente alto, la disipación de potencia en las resistencias R1 y R2 será muy elevada, y las pilas se descargan muy rápidamente, por lo que debemos llegar a una situación de compromiso, como por ejemplo IR = 20 Imax. (Al realizar cada diseño en particular podemos probar otras relaciones). Al aplicar los dos criterios de diseño mencionados, quedan determinados los valores de V y R, y podemos plantear el siguiente sistema de ecuaciones para calcular R1 y R2: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 61 Resolviendo obtenemos: En resumen, el procedimiento para diseñar un óhmetro con la primera configuración, utilizando un galvanómetro que tenga una resistencia interna Ri y cuya corriente máxima sea Imax, de forma tal que la lectura a media escala sea Rm, (valor que debe ser mayor que Ri), es el siguiente: a) Seleccionar una o más pilas de forma que el valor de V sea mayor que Rm Imax. b) Seleccionar R = Rm – Ri c) Seleccionar un factor F entre la corriente que va a circular por la fuente y la corriente máxima del galvanómetro (por ejemplo F =20). d) Calcular e) Calcular f) Determinar la potencia disipada por cada una de las tres resistencias calculadas. Diseño de un óhmetro de valor a media escala específico utilizando la segunda configuración En el circuito presentado para la segunda configuración en la Figura 47(b) podemos establecer las siguientes condiciones: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 62 Cuando Rx es igual a cero, por el galvanómetro debe circular la corriente Imax. Por la resistencia Rb circula una corriente I1 de valor desconocido. Al aplicar la Ley de Kirchhoff de los Voltajes al lazo inferiorse obtiene: 1 Donde V es una pila de valor comercial. La corriente I1 está relacionada con Imax mediante el divisor de corriente dado por la siguiente ecuación: 2 Cuando Rx es igual a Rm, por el galvanómetro debe circular la mitad de la corriente máxima, Imax/2, y por la resistencia Rb circula una corriente I2 de valor desconocido. Al aplicar la Ley de Kirchhoff de los Voltajes al lazo inferior se obtiene: 3 La corriente I2 está relacionada con Imax/2 mediante el divisor de corriente dado por la siguiente ecuación: 4 Las ecuaciones 1, 2, 3 y 3 forman un sistema de cuatro ecuaciones con cuatro incógnitas (Ra, Rb, I1 e I2) a partir del cual se pueden calcular los valores de interés para diseñar un óhmetro utilizando la segunda configuración (Ra y Rb). A partir de las ecuaciones 2 y 4 se puede deducir: 5 Sustituyendo esta relación en la ecuación 1 se obtiene: 6 Las ecuaciones 1 y 6 forman un sistema de dos ecuaciones con dos incógnitas (I2 y Rb) tal como se puede observar a continuación: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 63 7 De donde se obtiene: 9 La ecuación 8 indica que para que el diseño sea realizable es necesario que el voltaje V sea mayor que Imax Ri, es decir, que la pila comercial tenga un voltaje superior al máximo voltaje que puede haber entre los extremos del galvanómetro. Para determinar el valor de la resistencia Ra se sustituye la ecuación 9 en la 4, de donde se obtiene: 10 Esta ecuación impone una segunda condición al diseño, que puede expresarse de la siguiente forma: 11 Es decir, la resistencia seleccionada como valor de media escala debe ser menor que V/Imax, ya que si esta condición no se cumple, el valor de la resistencia Ra debería ser negativo, lo cual es físicamente imposible. Ahora bien, esta condición no es una restricción severa, dado que podemos seleccionar el valor de la fuente V utilizando las pilas que sean necesarias. En resumen, para diseñar un óhmetro con la segunda configuración, utilizando un galvanómetro que tenga una resistencia interna Ri y cuya corriente máxima sea Imax, de forma tal que la lectura a media escala sea Rm, se debe aplicar el siguiente procedimiento: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 64 a) Seleccionar un valor de V comercial que sea mayor que el producto Ri Imax y que el producto Rm Imax. b) Calcular c) Calcular d) Determinar la potencia disipada por cada una de las resistencias calculadas. Potenciómetro de ajuste de un óhmetro. Por lo general, cuando se montan los circuitos correspondientes a cada una de las dos configuraciones analizadas, no se coloca exactamente el valor de la resistencia R obtenido para la primera configuración ni el de la resistencia Rb obtenido para la segunda, sino que se conectan resistencias de valores inferiores a los calculados y se completan colocando potenciómetros (resistencias variables) en serie. De esta forma, a medida que se va descargando la pila comercial, puede irse ajustando la resistencia total de cada uno de los circuitos para poder cumplir con la condición de que cuando la resistencia de medición es cero, por el galvanómetro debe circular la máxima corriente Imax. Diseño de un óhmetro de varias escalas En las Figuras 49 y 50 podemos observar los diagramas de óhmetros de varias escalas correspondientes a cada una de las dos configuraciones estudiadas El procedimiento de diseño para cada configuración es el explicado anteriormente. En este caso la segunda configuración presenta una desventaja con respecto a la primera, porque requiere un selector doble, mientras que el de la primera es sencillo. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 65 FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 49. OHMETRO DE VARIAS ESCALAS CON LA PRIMERA CONFIGURACIÓN FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 50. OHMETRO DE VARIAS ESCALAS CON LA SEGUNDA CONFIGURACIÓN PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 66 LECCIÓN 5 MEDICIÓN DE SEÑALES AC, MULTÍMETRO TIPO RECTIFICADOR Estos instrumentos constan básicamente de un galvanómetro (PMMC) con algún tipo de rectificador. El elemento rectificador esta formado casi siempre por diodos. En la mayoría de aplicaciones el elemento rectificador empleado es la configuración de puente de diodos como la que se ilustra en la Figura 51. FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 51. VOLTÍMETRO RECTIFICADOR DE ONDA COMPLETA Este puente rectificador proporcionará una rectificación de onda completa; teniéndose una corriente pulsante unidireccional a través del medidor, sobre un ciclo completo de voltaje de entrada. El medidor indicará una deflexión estable proporcional al valor promedio de la corriente. Los valores de corriente y voltaje alterno se expresan en valores rms, la escala se calibra entonces en función de valores rms. Hay un concepto empleado en la medición de señales es conocido como factor de forma, este relaciona el valor promedio y el valor rms de los voltajes y corrientes variantes en el tiempo. Factor de forma = valor efect. de la onda de ca / valor promedio de la onda ca Para una onda senoidal esta relación tendrá un valor de 1.11 En forma ideal el rectificador cuenta con una resistencia directa cero, inversa infinita. En la práctica el rectificador es un dispositivo no lineal. Para valores bajos de corriente dc, el rectificador trabaja en la parte no lineal de sus características. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 67 La resistencia del elemento en el rectificador varia con los cambios de temperatura, a temperaturas o muy altas o muy bajas varia la resistencia, alternado los valores de las mediciones. Los cambios de frecuencia también afectan la operación, al aumentar la frecuencia por encima de 1 Khz., se aumenta el error en la medición. MULTIMETRO. Hemos visto que el diseño de los amperímetros, voltímetros y óhmetros se basa en la utilización de un galvanómetro de D’Arsonval. Debido a esto surge la idea de diseñar un instrumento capaz de incluir a los otros tres. Este instrumento es el que conocemos con el nombre de multímetro. Para diseñar un multímetro debemos tener en cuenta cuál va a ser su aplicación, ya que este hecho determinará el rango de cada una de las escalas del amperímetro, voltímetro y óhmetro. Además hay una serie de requisitos adicionales que debe cumplir un multímetro para que sea realmente un instrumento versátil, entre los cuales están: - Debe ser liviano, para que sea fácil transportarlo de un lugar a otro. - Debe ser compacto, por la misma razón anterior. - Debe tener una buena protección mecánica, para que sea resistente tanto a los golpes como a las vibraciones. - Debe ser de fácil manejo y lectura. Para elegir la escala deseada utilizamos un "conmutador o selector", el cual es un dispositivo mecánico mediante el cual podemos seleccionar las conexiones eléctricas. Un selector giratorio común consta, como podemos observar en la Figura 52, de uno o dos discos denominados galletas, en los cuales se encuentran los contactos dispuestos en forma radial. El puente de contacto es una lámina metálica conductora fijada a un eje de rotación que establece la conexión entre dos contactos determinados, de acuerdo a su posición angular. La fijación mecánica de las posiciones del eje se logra mediante un disco rígido provisto de una serie de topes que determinan la posición de una lámina metálica fijada al eje. La rotación del eje se logra en forma manual, a través de una perilla colocada al final de éste.Los selectores pueden tener una, dos o más galletas, de acuerdo a la cantidad de contactos necesarios. En la Figura 53 podemos observar el diagrama de un multímetro elemental. La determinación de los PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 68 valores de las resistencias que lo constituyen queda como ejercicio para el lector. FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 52. CONMUTADOR O SELECTOR PARA MULTÍMETROS FUENTE: www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf FIGURA 53. DIAGRAMA DE UN MULTÍMETRO ELEMENTAL PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 69 CIRCUTOS TIPICOS DE MULTIMETROS AC El circuito de la figura 54 nos muestra un circuito típico de un voltímetro de AC. El diodo D1 conduce la mitad del ciclo positivo de la señal AC de entrada, el medidor se deflectará según el valor promedio de la mitad del ciclo. La bobina del instrumento cuenta con una resistencia de derivación Rsh. El diodo D2 conducirá en el ciclo negativo. FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 54. CIRCUITO TÍPICO DE UN VOLTÍMETRO DE AC Generalmente los multimetros comerciales cuenta con las mismas marcas de escalas para rangos de voltaje cd y ca. Para el caso de señales senoidales, la componente cd de una onda senoidal es igual a 0.45 veces el valor rms. Para poder obtener la misma deflexión en los intervalos correspondientes de cd y ca, el multiplicador de rango de ca se debe disminuir proporcionalmente. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 70 CAPÍTULO 3 CIRCUITOS ELÉCTRICOS DE EQUILIBRIO LECCIÓN 1 PUENTE DE WHEATSTONE Los elementos resistivos son los sensores más comunes. Son baratos y es relativamente fácil realizar el interfaz con los circuitos de acondicionamiento. El valor de su resistencia varía desde unos 100 Ω hasta varios cientos de kΩ, dependiendo del sensor y del entorno físico de medida. En las RTDs y en las galgas se produce un cambio porcentual relativamente pequeño en el valor de su resistencia en respuesta a un cambio en una variable física como la temperatura o la fuerza. Así p.e. una RTD de platino de 100 Ω tiene un coeficiente de temperatura de 0,385%/ºC, de manera que para medir 1ºC, la exactitud en la medida debe ser mejor que 0,385 Ω. Las galgas presentan un cambio típico menor del 1 % del valor nominal de resistencia. Un método simple para medir resistencia es forzar una corriente constante a través del sensor resistivo y medir la tensión de salida. Esto requiere que tanto la fuente de corriente como la medida de tensión sean suficiente exactas. Cualquier variación en la corriente será interpretado como un cambio en la resistencia. Por otro lado la disipación de potencia en el sensor resistivo debe ser pequeña para evitar errores en la medida por el autocalentamiento. En consecuencia la fuente de corriente debe ser de pequeño valor, limitando la resolución de la medida. El puente resistivo de la figura (conocido como puente de Wheatstone) es una forma alternativa para medir pequeños cambios de resistencia. La variación en el valor inicial de una o varias de las resistencias del puente, como consecuencia de la variación de una magnitud física, se detecta en el puente como un cambio en la tensión de salida. Dado que los cambios de resistencia son muy pequeños, los cambios en la tensión de salida pueden ser tan pequeños como decenas de mV, lo que obliga a amplificar la señal de salida del puente. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 71 FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 54. PUENTES DE WHEATSTONE La diferencia de potencial entre los puntos c y d definirá la corriente a través del galvanómetro. Para el caso donde la diferencia de potencial es cero, no se tendrá paso de corriente por el instrumento, se dice entonces que el puente está equilibrado o balanceado, para que se cumpla esta condición: Vca = Vda y Vcb = V bd Donde Vca = I1R1 y Vda = I2R2 Por tanto I1R1 = I2R2 (Ec. 1) Si por el instrumento de medición (G) no se tiene paso de corriente: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 72 I1 = I3 = 31 RR Vcc y I2 = I4 = 42 RR Vcc Remplazando en la (Ec. 1): 31 1 RR VccR = 42 2 RR VccR Simplificando: 31 1 RR R = 42 2 RR R De donde: R1R4 = R2R3 Si se conoce el valor de 3 resistores el cuarto valor puede encontrarse empleando la expresión anterior, Si R4 es la resistencia desconocida: R4 = 1 32 R RR R3 se conoce como rama patrón, y las resistencias R2 y R1 se denominan ramas de relación. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 55. PUENTES ALIMENTADOS EN TENSIÓN PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 73 La figura 55 muestra cuatro casos típicos de puentes alimentados en tensión que se suelen presentar en la práctica. La tensión de salida del puente depende de la tensión de alimentación, por tanto la exactitud de la medida no puede ser mejor que la exactitud de la tensión de excitación. El caso (A) en el que varía sólo un elemento, es el más adecuado para la medida de temperatura con RTDs o termistores. También para medidas de deformación con una sola galga. Vemos que la relación entre la salida del puente e ΔR no es lineal. Más adelante veremos métodos para linealizar la salida del puente. El caso (B) se tiene p.e. con dos galgas iguales montadas adyacentemente, con sus ejes en paralelo. La no linealidad es igual que en el caso (A), pero la sensibilidad es el doble. Este tipo de puente con dos elementos variando es típico de sensores de presión y de flujo. En el caso (C) se tienen dos elementos idénticos que varían en direcciones opuestas. Es el caso de dos galgas una montada en la parte superior de la superficie flexible y otra en la parte inferior. La configuración (D) es una de las más populares. La señal de salida es la mayor de todas para un cambio de resistencia y es inherentemente lineal. Es una configuración típica de las células de carga. La sensibilidad del puente se calcula como la derivada de la salida respecto a la variación de resistencia. Vemos que es proporcional a la tensión de alimentación y se incrementa a medida que el puente tiene más elementos que Varían. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 56. PUENTES ALIMENTADOS CON CORRIENTE PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 74 Los puentes resistivos pueden también ser alimentados por una fuente de corriente constante, como se muestra en la figura 56. Estas configuraciones, no son tan populares como las alimentadas por tensión. Una ventaja que tiene es que cuando el puente está localizado remotamente de la fuente de excitación, la resistencia del cableado no introduce errores en la medida. Por otro lado el cableado es más simple. Note también que salvo el caso (A) todas las configuraciones son lineales. Además del número de elementos que varían en el punte, en el diseño de un puente resistivo hay que considerar otras cuestiones como el tipo de excitación y su estabilidad. Aunque tensiones de excitación altas dan lugar a tensiones de salida altas, la disipación de potencia es también alta, con posibilidad de errores por auto-calentamiento de la resistencia del sensor. Por el contrario, valores de la tensión de excitación bajos requieren más ganancia en elcircuito de acondicionamiento, lo cual incrementa la sensibilidad a errores debidos a señales de pequeño nivel como ruido y tensiones de offset. Por otro lado la estabilidad de la tensión o de la corriente de excitación afecta directamente a la exactitud de la salida del puente, por lo que se deben emplear referencias de tensión o de corriente estables. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 57. AMPLIFICACIÓN DE LA SALIDA DEL PUENTE PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 75 Para amplificar la salida del puente lo mejor es utilizar un amplificador de instrumentación (AI) como se muestra en la figura, en la que RG fija la ganancia. Como el AI proporciona una alta impedancia entre cada nodo de salida del puente y masa no desequilibra el puente ni lo carga. El AI permite obtener ganancias entre 10 – 1000 con excelente CMRR, sin embargo la salida aún no es lineal. Se puede linealizar la salida del puente por software conectando la salida del AI al CAD de un microcontrolador. La alimentación del AI puede ser dual (figura superior) o simple con -VS=0 (figura inferior). En este último ejemplo la tensión del pin REF del AI tiene que ser elevada al menos 1V. En el ejemplo se utiliza una tensión de referencia de 2V de forma que la salida del AI esté entre 2V±1V, que corresponde al margen de entrada del CAD. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 58. LINEALIZACIÓN DE LA SALIDA Se pueden emplear varias técnicas para linealizar la tensión salida del puente (ojo, esto no quiere decir que se linealice el sensor). La figura de la izquierda muestra un primer método, en el cual el puente debe estar “abierto” en uno de los nodos donde va a conectarse el sensor, lo que obliga a disponer de cinco terminales accesibles. El circuito de la derecha permite superar esta PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 76 circunstancia, a costa de añadir otro amplificador operacional. Se requiere alimentación dual y además una relación de resistencias R1-R2 ajustada y estable. Se recomienda utilizar operacionales de precisión. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 59. LINEALIZACIÓN DE LA SALIDA Utilizarse el esquema de la izquierda, similar al visto para un solo elemento resistivo variable. Para la misma tensión de alimentación ahora la sensibilidad del conjunto es el doble. Se requiere una fuente doble y una ganancia adicional. El esquema de la derecha utiliza un operacional, una resistencia de medida y una referencia de tensión. El objeto del bucle es mantener una corriente constante de valor IB = VREF/RSENSE a través del puente. La corriente a través de cada uno de los brazos del puente se mantiene constante e igual a IB/2, por lo que la salida es lineal con ΔR. El AI proporciona una ganancia adicional. Los principales problemas asociados con los puentes de medida em localizaciones remotas son la resistencia del cableado de conexión y la tensión de ruido inducida. Para cuantificar el error que se comete en la medición considere una galga de 350 Ω, conectada al resto del circuito puente por un par trenzado de 100 ft (1 ft=0,30 m) de longitud. La resistencia eléctrica del cable de conexión a 25 ºC es 0,105 Ω/ft y el coeficiente de temperatura del cobre 0,385%/ºC. Calcular el error en la ganancia y en el offset debido a un incremento en la temperatura de 10 ºC. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 77 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 60. MEDIDAS REMOTAS FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 61. CONEXIÓN A TRES HILOS El efecto de la resistencia del cable en la tensión de salida puede ser minimizado con la conexión a tres hilos de la figura. Se supone que se mide la tensión de salida del puente con un dispositivo de alta impedancia, por lo que no circula corriente por el cable de medida. Calcule para esta conexión los errores en la ganancia y el offset debidos a un incremento en la temperatura de 10ºC. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 78 De especial importancia es mantener la exactitud y estabilidad de la tensión de excitación del puente ya que como hemos visto la tensión de salida del puente es proporcional a la tensión de excitación, de forma que cualquier deriva en la tensión de excitación produce la correspondiente deriva en la tensión de salida. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 79 LECCIÓN 2 PUENTE DE KELVIN Es una modificación del puente de Wheatstone, es útil en la medición de resistencias de bajo valor, su estructura se muestra en la figura 62. FUENTE: COOPER, HELFRICK, “INSTRUMENTACIÓN ELECTRÓNICA MODERNA Y TÉCNICAS DE MEDICIÓN”, PRENTICE HALL. FIGURA 62. PUENTE DE KELVIN El galvanómetro de medición no tendrá un punto fijo de conexión teniendo 2 puntos posibles m o n. Si el punto de conexión es m, el valor de Rx se aumentará en un valor de Ry (resistencia del alambre), si el punto de conexión es n, el valor de R3 aumentará debido a Ry; y el valor de Rx disminuirá. Si tomamos la ecuación de equilibrio para el puente: Rx +/- Rnp = 2 1 R R (R3 + Rmp) Si se conecta el galvanómetro en el punto p, entre m y n, de manera que la razón de la resistencia de n a p y m a p iguale la razón de los resistores R1 y R2, entonces: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 80 Rmp Rnp = 2 1 R R Por tanto: Rx + Ry ( 21 1 RR R ) = 2 1 R R [R3 + ( 21 2 RR R )Ry] Simplificando: Rx = 2 1 R R R3 Esto nos muestra que si se conecta el galvanómetro en la posición intermedia p, se elimina el efecto de la resistencia del alambre de conexión del punto m al punto p. METODO KELVIN Algunos puentes de medida tienen los cuatro elementos resistivos sensibles (p.e las células de carga) y encapsulados en un único componente, con seis terminales accesibles: dos para la salida, dos para la excitación y dos para el sensado. Este esquema se muestra en la figura y se conoce cómo método Kelvin. Aunque este método elimina los errores debidos a la caída de tensión en la resistencia del cable del puente, se requiere que la tensión de alimentación sea muy estable ya que afecta directamente a la tensión de salida. Además, los operacionales deben tener baja tensión de offset, bajas derivas y bajo ruido. Adicionalmente se puede conectar la VB a la entrada de referencia de un ADC. Este actúa como un divisor (con salida digital) entre su tensión de entrada (la salida del puente es proporcional a la tensión de alimentación) y la tensión de referencia. De esta forma la fuente de alimentación no se requiere que sea muy estable. A este tipo de medidas se las denomina ratio métricas o medidas por relación. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 81 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 63. METODO KELVIN Otro método para minimizar el efecto que la resistencias es la conexión a cuatro hilos es el de la figura, en la que el puente se excita con una fuente de corriente. Tiene la ventaja de que sólo utiliza un amplificador, pero puede requiere un buffer de corriente para poder proporcionar corrientes por encima de unos pocos mA. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 64. CONEXIÓN A CUATRO HILOS LECCIÓN 3 PUENTE DE MAXWELL PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 82 Es empleado para la medición de inductancias de valor desconocido, teniéndose un valor conocido de capacitancia. Su estructura semuestra en la figura 65: FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 65. PUENTE DE MAXWELL Tomando la ecuación de equilibrio para el puente: ZXY1 = Z2Z3 o Zx = Z2Z3Y1 Para la rama 1 se tiene la admitancia Y1 = 1 1 R + jwC1 Remplazando: Zx = Rx + jwLx = R2R3( 1 1 R + jwC1) Separando partes reales e imaginarias: Rx = 1 32 R RR y Lx = R2R3C1 El puente de Maxwell tiente un buen desempeño para medición de bobinas con Q medio. Entre 1 y 10. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 83 Dado un inductor real, el cual puede representarse mediante una inductancia ideal con una resistencia en serie (Lx, Rx), la configuración del puente de Maxwell permite determinar el valor de dichos parámetros a partir de un conjunto de resistencias y un condensador, ubicados de la forma mostrada en la Figura 66. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 66. PUENTE DE MAXWELL PARA MEDIR LOS PARÁMETROS DE UN INDUCTOR El hecho de utilizar un capacitor como elemento patrón en lugar de un inductor tiene ciertas ventajas, ya que el primero es más compacto, su campo eléctrico externo es muy reducido y es mucho más fácil de blindar para protegerlo de otros campos electromagnéticos. La relación existente entre los componentes cuando el puente está balanceado es la siguiente: En primer lugar, podemos observar que los valores de Lx y Rx no dependen de la frecuencia de operación, sino que están relacionados únicamente con los valores de C1 y R1, R2 Y R3. Por otra parte, existe una interacción entre las resistencias de ajuste, ya que tanto R1 como R3 intervienen en la ecuación de Rx, mientras que en la de Lx solo interviene R3. De acuerdo con esto, es necesario realizar varios ajustes sucesivos de las dos resistencias variables hasta obtener la condición de cero en el detector. Por lo tanto, el balance de este tipo de puente resulta mucho más complejo y laborioso que el de un puente de Wheatstone de corriente continua. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 84 El puente tipo Maxwell también se utiliza para determinar el valor de condensadores reales cuyo modelo circuital consta de una conductancia ideal en paralelo con una resistencia que representa las pérdidas óhmicas. La configuración del circuito en este caso es la presentada en la Figura 66. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 67. PUENTE DE MAXWELL PARA MEDIR LOS PARÁMETROS DE UN CONDENSADOR. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 85 La ecuación en la condición de equilibrio es: Como en el caso anterior, los valores de Cx y Rx son independientes de la frecuencia, e igualmente existe interacción entre los elementos de ajuste, debido a que ambos aparecen en la expresión de Rx. Si los parámetros de ajuste fuesen R1 y C1 en lugar de R1 y R3, desaparecería la interacción presente actualmente. La desventaja de un puente en el que el elemento variable es un condensador es el hecho de que resulta difícil hallar capacitares variables de precisión con valores comprendidos dentro de un rango adecuado para poder hacer un diseño de este tipo. La configuración del Puente de Maxwell ofrece muy buenos resultados siempre y cuando la Q del circuito no sea demasiado grande, esto es, mientras Rx del inductor no sea muy pequeña o Rx del condensador no sea excesivamente grande, ya que en caso contrario, R1 debería tomar valores mayores que los que ofrecen las resistencias de ajuste disponibles. En estos casos es necesario utilizar otro tipo de configuración, que analizaremos a continuación. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 86 LECCIÓN 4 PUENTE DE HAY, SCHERING Y PUENTE WIEN PUENTE DE HAY La configuración de este tipo de puente para medir inductores reales, cuyo modelo circuital consta de una inductancia en serie con una resistencia es la mostrada en la Figura 68. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 68. PUENTE DE MAXWELL PARA MEDIR LOS PARÁMETROS DE UN CONDENSADOR. La ecuación de balance para este puente es la siguiente: Esta ecuación puede separarse en las siguientes: De donde: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 87 Como podemos observar, los valores de Lx y Rx además de depender de los parámetros del puente, dependen de la frecuencia de operación y las expresiones para calcular Lx y Rx son complejas. Ahora bien, en el punto anterior indicamos que esta configuración la vamos a utilizar cuando el valor de Q sea elevado, ya que en caso contrario es conveniente emplear el puente de Maxwell. Como Q=1/wC1R1, cuando Q>>l, podemos considerar que los denominadores tanto de Lx como de Rx son igual a 1, sin introducir en la medición del inductor un error mayor que el debido a la exactitud con la que se conoce el valor real de los otros elementos del puente. Con esta aproximación, las fórmulas para Lx y Rx son: Utilizando estas relaciones se puede calcular el valor de Lx y Rx en forma mucho mas directa. Podemos considerar que a partir de Q=10, este valor es lo suficientemente grande como para realizar la aproximación. Para medir condensadores reales, cuya representación circuital es una Capacitancía en paralelo con una resistencia, la configuración del puente de Hay es la mostrada en la Figura 69 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 69. PUENTE DE HAY PARA MEDIR LOS PARÁMETROS DE UN CONDENSADOR PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 88 Las relaciones que se cumplen cuando el puente está balanceado son: De donde: Despejando Cx y Rx obtenemos: Como en el caso anterior, si Q>>1, las ecuaciones de Cx y Rx se pueden simplificar de la siguiente forma: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 89 PUENTE DE SCHERING Es empleado este puente para la medición de capacitares. Su estructura se muestra en la Figura 70: FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 70. PUENTE DE SCHERING En la rama 3 del circuito se ubica un capacitor normalmente de mica de alta calidad o un capacitor de aire para mediciones de aislamiento. De la ecuación de equilibrio general del puente: Zx = Z2Z3Y1 Donde : Zx = Rx - wCx j Y1 = 1 1 R + JWC1 Por tanto: Rx - wCx j = R2(- 3wC j )( 1 1 R + jwC1) Multiplicando: Rx - wCx j = 3 12 C CR - 13 2 RwC jR PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 90 Igualando componentes reales e imaginários: Rx = R2 3 1 C C y Cx = C3 2 1 R R El ajuste de equilibrio del puente se hace mediante C1 y R2. El factor de potencia (PF), de un circuito serie RC se define como: PF = Zx Rx Para ángulos de fase cercanos a 900, la reactancia es casi igual a la impedancia y se aproxima a : PF = Zx Rx = wCxRx En un circuito RC el factor de disipación (D), es por definición: D = Xx Rx = wCxRx = Q 1 El factor de disipación es un indicador de la calidad del capacitor. Teniendo en cuenta que: Rx = 3 12 C CR y Cx = 2 13 R RC D = 23 1312 RC RCCwR = WR1C1 PUENTE WIEN Es útil para la medición de frecuencia, además es empleado en osciladores de audio y HF como elemento que determina la frecuencia, también es empleado en los analizadores de distorsión armónica donde se usa como filtro pasa banda. La estructura del puente se muestra en la figura 71 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS91 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 71. PUENTE DE WIEN Donde: Z1 = R1 - 1wC j y Y3 = 3 1 R + JWC3 Tomando la ecuación de equilibrio del puente y remplazando los valores apropiados: R2 = (R1 - 1wC j )R4( 3 1 R + JWC3) Desarrollando la ecuación: R2= 3 41 R RR + JWC3R1R4 - 31 4 RwC jR + 1 34 C CR Tomando la parte real: R2 = 3 41 R RR + 1 34 C CR Simplificando 4 2 R R = 3 1 R R + 1 3 C C Para la parte imaginaria: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 92 WC3R1R4 = 31 4 RwC R Donde w = 2πf Despejando f = 31312 1 RRCC La condición de equilibrio esta determinada entonces si se cumplen la ecuación que relaciona las resistencias del circuito y se tiene un señal de entrada con una frecuencia que cumpla con la expresión anterior. Normalmente se emplea: R1 = R3 y C1 = C. Esto no lleva a R2/R4 = 2 y f =1/2πRC. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 93 LECCIÓN 5 CONDICIONES DE EQUILIBRIO DE LOS PUENTES, APLICACIÓN DE LA ECUACIÓN DE EQUILIBRIO La estructura del puente de mediciones de c.a. es similar al puente de d.c., un generador, un detector de cero y 4 ramas. El detector de cero actúa conforme se tengan corrientes de desequilibrio, normalmente se emplea un par de audífonos, un amplificador de c.a. con un medidor de salida o un tubo de rayos catódicos como detector de cero. La estructura del puente se muestra en la figura 4, con sus 4 ramas y el detector de cero, el puente se encuentra en estado de equilibrio si la corriente a través del detector es cero. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 72. CONDICIÓN DE EQUILIBRIO Para ajustar el equilibrio del puente se debe variar una o más ramas. Para encontrar la ecuación general para el equilibrio del puente se debe tener en cuenta que las cuatro ramas presentan un valor de impedancia. Para la condición de equilibrio: Eac = 0 (en magnitud y fase) Para esto se debe cumplir que: EBA = RBC o I1Z1 = Z2 De donde: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 94 I1 = 31 ZZ E y I2 = 42 ZZ E Remplazando: Z1Z4 = Z2Z3 Para el caso en que se empleen admitancias: Y1Y4 = Y2Y3 Teniendo en cuenta que se trata de cantidades complejas, su expresión en forma polar es: (Z1 1 )(Z4 4 ) = (Z2 2 )(Z3 3 ) Tomando en cuenta las características de los números complejos: Z1Z4 1 + 4 = Z2Z3 2 + 3 Se generan 2 condiciones a satisfacer para que el puente este en equilibrio: Z1Z4 = Z2Z3 producto de magnitudes de ramas puestas 1 + 4 = 2 + 3 suma de ángulos de fase de las ramas opuestas PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 95 BIBLIOGRAFÍA LIBROS CONSULTADOS Cooper, Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas de medición”, Prentice Hall. Bopton, ”Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas”, Alfaomega Lázaro, Manuel, “Problemas resueltos de instrumentación y medidas electrónicas”, Paraninfo. Manuales de los equipos de laboratorio seleccionados Guías del profesor Lázaro, Manuel, “Problemas resueltos de instrumentación y medidas electrónicas”, Paraninfo. Cooper, Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas de medición”, Prentice Hall. Buchla, David y Mc Lachlan, Wayne, ”Applied electronic instrumentation and measurement”, Macmillan publishing company, New York. Cooper, Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas de medición”, Prentice Hall Creus, Antonio. Instrumentación Industrial. Sexta edición Alfaomega – Marcombo 1998. Doebeling, E. O. Measurement Systems Applicationand Design. McGraw Hill New York 1990. Lion, K. S. Elements Of Electrical And Electronic Instrumentation. McGraw Hill New York 1975. Ogata, Katsuhiko. Modern Control Engineering. Segunda edición Englewood Cliffs Prentice Hall New York 1990. PAGINAS WEB CONSULTADAS Pagina Web de Física http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm Pagina Web de Metrología www.cem.es/cem/es_es/metrologia/sme.pdf Pagina Web de Procedimientos de Referencia www.quimica.urv.es/quimio/general/crms.pdf Pagina Web de la Superintendencia de Industria y Comercio http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php Pagina Web Instrumentación Electrónica http://www2.ate.uniovi.es/13996/ Pagina Web con documentación técnica de medidores análogos www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf Pagina Web de consulta personalizada www.monografias.com/trabajos17/sistemas-adquisicion-dato/sistemas- adquisicion-dato.shtml Pagina Web de Nacional Instruments, LabVIEW PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 1 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES ANÁLOGICAS 96 www.ni.com/labview Pagina Web con documentación técnica de Tubos de Rayos catódicos personales.unican.es/perezvr/pdf/tubos%20de%20rayos%20catodicos.pdf Pagina Web con documentación técnica sobre el manejo del osciloscopio http://usuarios.iponet.es/agusbo/osc/osc_5.htm Pagina Web con documentación técnica sobre Reflectometría elec.itmorelia.edu.mx/tovar/2modlineas-01.htm PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 97 CAPÍTULO 1 DIGITALIZACIÓN DE SEÑALES LECCIÓN 1 TRANSFORMACIÓN DE UNA SEÑAL ANALOGICA A DIGITAL Y VICEVERSA SISTEMAS MUESTREADOS En el contexto de la instrumentación digital, muestrear una señal implica reemplazar la magnitud continua por una secuencia de números que representan los valores de dicha señal en determinados instantes. Un sistema muestreado es aquel que, partiendo de una señal o magnitud analógica o continua es capaz de generar una secuencia de valores discretos, separados a intervalos de tiempo. El muestreo es la característica fundamental de los sistemas de control digital, dada la naturaleza discreta de los dispositivos que realizan el proceso de control. Generalmente la señal continua es convertida en una secuencia de números que son procesados por el computador digital. El computador da una nueva secuencia de números, los que son convertidos a una señal continua y aplicada al proceso. Este segundo proceso se denomina reconstrucción de la señal. Dada la importancia del muestreo es necesario conocer a fondo este proceso. La Figura 73 y 74 muestra la forma en que se realiza el muestreo. FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 73. UNA SEÑAL DE FUNCIÓN Y(t) ENTRA A UN MULTIPLICADOR MUESTREADOR REPRESENTACIÓN ESQUEMÁTICA DEL PROCESO DE MUESTREO DE UNA SEÑAL ANÁLOGA PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 98 Existe un primer elemento llamado muestreador que congela un instante el valor de la señal a muestrear, pero la salida del muestreador sigue siendo analógica. Para convertir esta señal a un valor numérico esta el conversor analógico digital. FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 74. SEÑALES GENERADAS A PARTIR DEL PROCESO DE MUESTREO DE UNA SEÑAL ANÁLOGA. En el ejemplo se ha dibujado ex-profeso el muestreo con tiempos diferentes pero lo más común es muestrear con un período constante Tm llamado período de muestreo. Si bien se han dibujado separados, el muestreador y el conversor normalmente están juntos en un mismo elemento. Lo que conviene reiterar es que el proceso no sufre alteración alguna y si éste era continuo lo seguirá siendo. Para mayor claridad, se muestra en la Figura75 cómo sería la generación de una señal de control discreta y en la Figura 76 se observan las diferentes señales. A los fines del análisis es útil tener una descripción del muestreo. Esta acción significa simplemente reemplazar una señal por su valor en un número finito de puntos. Sea k el conjunto de números enteros. El muestreo es una operación lineal. El período de muestreo es normalmente constante o sea t = kTm. En estas condiciones se llama muestreo periódico y Tm es llamado período de muestreo. A HzTmf s 1 se le denomina frecuencia de muestreo. Son usados también otros esquemas de muestreo mas sofisticados. Por ejemplo, muestrear diferentes lazos con diferentes períodos de muestreo. Este caso se denomina muestreo múltiple y puede ser tratado como superposición de varios muestreos periódicos. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 99 FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 75. DIAGRAMA DE BLOQUES DE UN CONTROLADOR DIGITAL. FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 76. MUESTREO DE UNA SEÑAL CONTINUA. El caso del muestreo periódico ha sido estudiado profundamente. Mucha teoría está dedicada a este tema pero el muestreo múltiple está cobrando importancia día a día con el uso de sistemas multiprocesadores. Con el software moderno es posible diseñar un sistema como si fuesen varios procesos trabajando asincrónicamente. La señal continua y(t) se convierte en una secuencia mediante el muestreador y el CAD que normalmente es el elemento más lento de la cadena. Ya dentro del computador se genera la secuencia de control u. Este proceso consume un determinado tiempo Tc. Mediante el CDA la secuencia se convierte en analógica y por último el bloqueador o Retenedor interpola los PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 100 valores de la señal entre dos períodos de muestreo. El bloqueador más usual es aquel que mantiene el valor de la señal hasta la siguiente muestra llamado retenedor de orden cero. TEOREMA DEL MUESTREO Si el muestreo es suficientemente pequeño no se pierde casi información pero ésta pérdida puede ser importante si el período de muestreo es muy grande. Es, entonces, esencial saber cuando una señal continua es biunívocamente definida por su muestreo. El siguiente teorema da las condiciones para el muestreo. Una señal continua con espectro en frecuencia nulo fuera del intervalo [-ω0, ω0] es reconstruible totalmente si se la muestrea con una frecuencia ωs>2. La reconstrucción se obtiene mediante el siguiente cálculo: (1) La frecuencia ωs/2 recibe el nombre de Frecuencia de Nyquist. RECONSTRUCCIÓN DE SENALES Si se quiere saber cómo es la señal continua a partir de la información que brinda la secuencia de muestras es necesario un proceso llamado de reconstrucción. En este proceso es posible que la señal reconstruida no coincida exactamente con la original. Esto se ve en la figura 77. La pregunta es cuán parecida será la señal reconstruida a la original. Todo dependerá del reconstructor que se utilice. RECONSTRUCCIÓN IDEAL Para el caso de señales con ancho de banda limitado, se puede reconstruir a partir de la ecuación (1). La desventaja es que esta operación no es causal y se deben conocer los valores anteriores y posteriores al instante tratado. Esto no es conveniente para el control digital, pero si puede ser útil en comunicaciones donde se puede aceptar un retardo. Otra desventaja es su complicado cálculo y que solo es aplicable al muestreo periódico. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 101 FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 77. PROCESO DE RECONSTRUCCIÓN DE UNA SEÑAL ANÁLOGA. RECONSTRUCCIÓN DE LA SEÑAL TRIANGULAR CON UNA FRECUENCIA DE SEÑAL MUESTREADORA DE 100K CON AMPLITUD 5VPP Esta reconstrucción es no causal y en la gráfica 78 se muestra el resultado del proceso; la línea suave es la señal continua (color violeta) y la ondulada es su reconstrucción (color verde). Se muestran además los aportes de cada elemento de la sumatoria. La reconstrucción no es perfecta ya que no se consideraron infinitos términos de la sumatoria. FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 78. RECONSTRUCCIÓN IDEAL DE UNA SEÑAL BLOQUEADORES. La reconstrucción anterior no es útil para aplicaciones en Instrumentación y demasiado costosa desde el punto de vista de cálculo. Es por esto que se eligen métodos más simples. El más usual es el bloqueador de orden cero o retenedor que consiste en mantener la señal en el mismo valor de la última muestra. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 102 FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 79. RECONSTRUCCIÓN DE UNA SEÑAL CON RETENEDOR DE ORDEN CERO Dada su simplicidad este bloqueador ZOH es el más usado en control digital y los CDA estándares son diseñados con este principio. Obviamente ésta reconstrucción introduce un error como se puede ver en la figura 79. Otro bloqueador causal es el que se construye considerando las dos últimas muestras y extrapolando linealmente el comportamiento futuro que es el retenedor de Primer Orden o FOH. APARICIÓN DE FRECUENCIAS ESPURIAS Lo que dice el teorema del muestreo es que si la frecuencia de muestreo es inferior a la máxima frecuencia del sistema continuo la reconstrucción ya no es posible debido a la superposición de los lóbulos. Un ejemplo es lo que sucede al muestrear la señal de la figura 80. FUENTE: GRAFICA CONSTRUIDA EN SIMULINK DE MATLAB FIGURA 80. APARICIÓN DE FRECUENCIAS ESPURIAS Una posible solución es incrementar la frecuencia de muestreo pero esto trae dos problemas: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 103 1) si se observan los elementos de la transformada en Z, estos varían con el período de muestreo y en particular las raíces de los polinomios tenderán todas a 1, esto llevará a errores numéricos indeseados. 2) en el caso de que se elija una frecuencia suficientemente alta respecto de las frecuencias propias de la planta, puede ser que no sea lo suficientemente alta con respecto a alguna perturbación y el muestreo de esta perturbación introduzca componentes de baja frecuencia. Estas señales que aparecen reciben el nombre es frecuencias alias y la única forma de evitarlas es filtrar la señal antes del muestreo. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 104 LECCIÓN 2 CIRCUITOS DE MUESTREO Y RETENCIÓN Los circuitos de muestreo y retención (Sample and Hold, S&H) se usan ampliamente en el procesado de señales analógicas y en sistemas de conversión de datos para almacenar de forma precisa, una tensión analógica durante un tiempo que puede variar entre menos de 1μseg y varios minutos. Aunque conceptualmente son simples, sus aplicaciones están llenas de sutilezas y en general las aplicaciones que necesitan solamente una velocidad moderada y asimismo una moderada exactitud, generan pocos problemas, pero las aplicaciones de alta velocidad y exactitud necesitan un cuidadoso diseño. Por ejemplo tomar una muestra de 10V en menos de 1μseg con una exactitud del 0,01% es relativamente complicado. Lógicamente, si se desea adquirir señales con una variación lenta en el tiempo no es necesario muestrear y por ello no se requiere emplear un circuito S&H. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 81. CIRCUITOS DE MUETREO Y RETENCIÓNLa figura 81 muestra un circuito de muestreo y retención básico. Cuando el interruptor se cierra el condensador se carga a la tensión de entrada. Cuando el interruptor se abre el condensador retiene esta carga con lo que “congela” la tensión durante un período especificado exteriormente. De este modo no hace falta que la conversión sea muy rápida; basta que lo sea la adquisición de la muestra. La salida del CAD corresponde entonces al valor de la entrada en el “instante” de muestreo. El tiempo de conversión vendrá limitado solamente por el criterio de Nyquist. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 105 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 82. PARÁMETROS CARACTERÍSTICOS En la práctica se tienen errores tanto en la conmutación del interruptor como en los intervalos muestreo y de retención. La figura 82 muestra los parámetros típicos de un circuito S/H. Durante el intervalo de muestreo el S&H se comporta como un amplificador y por lo tanto las características estáticas y dinámicas que tiene son similares a las de cualquier amplificador, es decir: Error de cero (sample offset). Es el valor de la tensión de salida cuando la entrada es cero. Error de ganancia (gain accuracy, gain error). Es la diferencia entre la tensión de entrada y la de salida. Derivas de la ganancia con la temperatura. Tiempo de establecimiento (settling time) Ancho de banda. Máxima velocidad de variación de la salida (slew rate) PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 106 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 83. MUESTREO - RETENCIÓN En esta fase se abre el interruptor, aunque no de forma instantánea, ni siempre con el mismo retardo. Por lo tanto, aunque una vez transcurrido el tiempo de adquisición decidamos retener la muestra, el valor retenido realmente será otro. Tiempo de apertura (Aperture time). Es el tiempo necesario para que el interruptor pase del estado de muestreo al de retención. Se mide desde el nivel 50% de la señal de control de muestreo a retención, hasta el instante en que la salida deja de seguir a la entrada. Este tiempo se debe por una parte al retardo entre la orden y el inicio del cambio de RON y, por otra, a la evolución gradual del interruptor desde conducción a corte. La existencia de una constate de tiempo τ hace que la tensión en bornes de CH esté retrasada un tiempo τ respeto a la tensión aplicada en la entrada del S&H. Incertidumbre en el tiempo de apertura (Aperture jitter, Δtap). Es el margen de variación del tiempo de apertura. Si la señal de control para pasar a retención la adelantamos en previsión de la existencia del tiempo de apertura, el único error de tiempo que queda es esta incertidumbre, que determina pues, el límite último de la máxima frecuencia de muestreo. Este parámetro es consecuencia de ruido de la red de conmutación el cual modula la fase del comando hola manifestándose en la variación de la señal analógica de entrada que es retenida. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 107 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 84. APERTURE JITTER Suponiendo una señal de entrada senoidal vi(t) = VP senωt, el error debido a la incertidumbre en el tiempo de apertura es ΔV=(dvi/dt)Δtap. Si se quiere que el error máximo sea menor que ½ LSB la frecuencia máxima de la señal de entrada será: fmax <1/[2n+1·π · Δtap]. Error de transferencia de carga (Charge transfer). Es la carga transferida a través de capacidades parásitas al condensador de retención cuando se conmuta al estado de retención. Provoca un error de tensión ΔV=ΔQ/CH. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 85. INTERVALO DE RETENCIÓN Pendiente (Droop Rate). Es el decremento (o incremento, dependiendo de la polaridad de las corrientes) de la tensión de salida, debido al condensador de almacenamiento, a las corrientes de fuga en el interruptor y a las corrientes de PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 108 polarización del amplificador de salida. Esta deriva es tanto menor cuanto mayor sea el condensador de retención. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 86. RAZÓN DE ATENUACIÓN DE PASO Razón de atenuación del paso (Feedthrough Attenuation Ratio). Es el porcentaje del cambio de una señal senoidal de entrada que se mide en la salida del S&H en el modo de retención. Es debido al acoplamiento capacitivo a través del interruptor y depende de la amplitud y de la frecuencia de la entrada. Tiene importancia cuando un S&H sigue a un multiplexor analógico. En esta fase el condensador CH se carga a la tensión de entrada, con un transitorio para el establecimiento final, que depende de la amplitud y forma concreta de la señal de entrada. Las especificaciones suelen darse para un cambio en escalón de amplitud igual al fondo de escala. Tiempo de adquisición (Acquisition time). Es el tiempo durante el que el S&H debe permanecer en el estado de muestreo, necesario para que la salida alcance su valor final, dentro de una cierta banda de error, e incluye el retardo en la conmutación, el intervalo de subida (slewing interval) y el tiempo de establecimiento en la adquisición (settling time). El tiempo de adquisición aumenta al hacerlo la capacidad del condensador de almacenamiento y, junto con el tiempo de conversión del CAD, determina el tiempo empleado en cada canal adquirido. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 109 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 87. RAZÓN DE ATENUACIÓN DE PASO FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 88. ARQUITECTURAS DE S&H Describiendo la figura 88 tenemos: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 110 1: Similar al descrito inicialmente, S/H en bucle abierto y formado por dos seguidores de tensión. Para tener una buena exactitud los amplificadores A1 y A2 deben tener slew rates altos, tiempos de establecimiento rápidos, bajas tensiones de offset y derivas ya que estos errores son acumulativos. 2: La realimentación completa de la salida a la entrada minimiza los errores en el modo de muestreo. El circuito tiene mayor exactitud pero una peor dinámica. 3: Tiene unas características similares al circuito 2. El interruptor queda conectado a la masa virtual de A1 y CH es un condensador integrador. La elección del condensador está sujeta a un compromiso entre exactitud y velocidad: si CH es grande, aumenta su exactitud (influyen menos las corrientes de fugas y la inyección de carga), pero para que se cargue rápidamente al valor final interesa que CH sea pequeña. EJEMPLOS 1) FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 89. EJEMPLO RETENEDOR DE ORDEN CERO SMP04 CON SUS CARACTERISTICAS 2) PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 111 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 90. EJEMPLO RETENEDOR DE ORDEN CERO CON SUS CARACTERISTICAS La aplicación típica de los circuitos S/H es funcionando conjuntamente con un CAD. En algunos casos el S/H está integrado en el CAD. El tiempo mínimo requerido en el proceso de conversión es la suma del tiempo de apertura (tap) y el de adquisición (tad) del S/H más el tiempo de conversión del CAD (tconv). Teniendo en cuenta el teorema de Nyquist la máxima frecuencia de laseñal de entrada viene dada por: fin < 1/2(tad + tap +tconv) FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 91. APLICACIÓN DEL RETENEDOR DE ORDEN CERO PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 112 LECCIÓN 3 EL CONVERSOR ANALOGO DIGITAL (CAD) Un convertidor analógico-digital (CAD) es un dispositivo que proporciona una salida la cual representa digitalmente la tensión o corriente de entrada. Básicamente la idea es comparar la entrada analógica con una señal (tensión o corriente) de referencia. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 92. CONVERSORES A/D Un convertidor analógico-digital (CAD) es un dispositivo que proporciona una salida la cual representa digitalmente la tensión o corriente de entrada. Básicamente la idea es comparar la entrada analógica con una señal (tensión o corriente) de referencia. Si la entrada del convertidor se mueve dentro de su escala completa de valores analógicos y se toma la diferencia entre la entrada y la salida, se obtiene una función de error en forma de diente de sierra, denominada error de cuantificación y es el error irreducible que resulta del proceso de cuantificación. Solo se puede reducir incrementando el número de estados de salida (resolución) del convertidor. Este error se denomina también “incertidumbre de cuantificación” o “ruido de cuantificación”. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 113 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 93. LA FUNCIÓN DE TRANSFERENCIA IDEAL FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 94. ERROR DE CUANTIFICACIÓN ESPECIFICACIONES PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 114 DC: Error de offset Error de ganancia Error de no linealidad diferencial (DNL) Error de no linealidad integral (INL) Error total AC: SNR ENOB THD SINAD SFDR Error de offset. Es el valor analógico de la diferencia entre la función de transferencia real y la ideal, en ausencia de otros errores (salvo el de cuantificación). Su presencia implica que la primera transición no se produce exactamente en ½ LSB, de modo que la curva de transferencia está desplazada horizontalmente. Error de ganancia. Es la diferencia entre los puntos de mitad de escalón de la curva de transferencia real y la ideal correspondiente a la salida digital de todo 1, en ausencia de otros errores (salvo el de cuantificación). Error de no linealidad integral (INL). Es la máxima diferencia entre la función de transferencia real y la ideal cuando los errores de cero y de ganancia son nulos. Es un error que no se puede corregir. Se denomina “integral” porque es el error que se tiene en una determinada palabra de salida con independencia de las demás. Error de no linealidad diferencial (DNL). Es la diferencia entre el ancho de un escalón real y el de uno ideal, que es 1 LSB. Si el DNL excede 1 LSB el convertidor se puede hacer no monótono (la salida se hace más pequeña para un incremento en la entrada) y el convertidor puede perder códigos. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 115 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 95. ERROR DE OFFSET Y DE GANANCIA FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 96. ERROR DE NO LINEALIDAD INTEGRAL(INL) PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 116 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 97. ERROR DE NO LINEALIDAD DIFERENCIAL (DNL) La exactitud (accuracy) viene especificada mediante el error total, que es el valor máximo de la suma de todos los errores, incluido el de cuantificación, y puede expresarse como error absoluto o como error relativo. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 98. ERROR TOTAL PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 117 Relación señal-ruido (SNR). Es la relación entre el valor eficaz de la señal de entrada VIN (típicamente una señal senoidal) y el valor eficaz del ruido de cuantificación, Vn. En decibelios se tiene SNR = 6,02xn + 1,76. Por ejemplo para un CAD de 12 bits la SNR teórica es aproximadamente 74 dB. Cada bit extra adicional supone una mejora de aproximadamente 6 dB en la SNR. Ahora bien, si se desea aumentar la relación SNR a base de un mayor número de bits, hay que tener en cuenta que esto implica un mayor tiempo de conversión y, por lo tanto, un menor ancho de banda aceptable para la señal de entrada. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 99. RELACIÓN SEÑAL A RUIDO El ruido que se tiene en un CAD es mayor que el ruido de cuantificación, por lo que la relación señal ruido será menor que la calculada en la transparencia anterior y por tanto la resolución efectiva, denominada número efectivo de bits (ENOB), será menor que n. Para una determinada entrada ENOB incluye tanto el ruido de cuantificación como la distorsión debida a la no-linealidad de su característica estática. Este parámetro especifica el comportamiento dinámico de un CAD y disminuye con la frecuencia de la señal de entrada. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 118 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 100. NUMERO EFECTIVO DE BITS (ENOB) THD (Distorsión armónica total) Se define como la suma de la potencia de todos los armónicos de frecuencia superior a la frecuencia fundamental y la potencia del fundamental. El número de armónicos que se considera para los cálculos de THD depende de la aplicación. SINAD (Relación señal-ruido + Distorsión) Es la relación de la señal de entrada a la suma de la distorsión armónica y el ruido. Es el inverso de THD+N. Las especificaciones SINAD y THD+N son una buena indicación de la respuesta dinámica del convertidor dado que incluyen tanto el ruido como la distorsión. Es la diferencia entre el valor máximo de la señal y el valor máximo de la distorsión. Este parámetro es interesante cuando el CAD opera en entornos ruidosos y se desea digitalizar señales de pequeño nivel. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 119 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 101. DISTORSIÓN ARMÓNICA TOTAL (THD) FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 102. MARGEN DINÁMICO LIBRE DE SEÑALES ESPURIAS La elección de la arquitectura más adecuada para cada aplicación estará condicionada en muchos casos por cinco parámetros: resolución, velocidad, costo, alimentación y tamaño PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 120 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ TABLA 8. TIPOS DE CAD En general los CAD de mayores resoluciones son más lentos, mientras que los CAD más rápidos consumen más. Los CAD sigma-delta son los que tienen resoluciones más altas y el consumo más bajo, salvo los CAD de doble rampa cuyo consumo es aún menor. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 121 LECCIÓN 4 EL CONVERSOR DIGITAL ANALOGO (CDA) La conversión digital-analógica es un procedimiento a través del cual un código de entrada es transformado en una señalde tensión o de corriente unipolar o bipolar de salida mediante una correspondencia entre 2n combinaciones binarias posibles de entrada y 2n tensiones (o corrientes) discretas de salida, obtenidas a partir de una referencia de tensión o de corriente. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 103. EL COVERSOR DIGITAL A ANALOGO FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 104. LA FUNCIÓN DE TRANSFERENCIA IDEAL La figura 104 muestra la característica de transferencia ideal de un CDA unipolar. Es importante notar que tanto la entrada como la salida están cuantificadas, es decir, un CDA de n bits (con una referencia fija) solo puede tener 2n posibles salidas analógicas. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 122 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ TABLA 9. TAMAÑO DE 1 LSB La tabla 9 muestra el valor de un LSB para diferentes resoluciones y márgenes de tensión analógica. Vemos que se tienen valores de LSB inferiores a 1 mV. Esto conlleva un cuidado especial en el diseño de la etapa de acondicionamiento previa, de forma que los diferentes errores (offset, derivas, ruido,…) no superen el valor del LSB. Tenga en cuenta por ejemplo que el ruido Johnson de una resistencia de 2,2 kΩ a 25ºC, para un ancho de banda de 10 kHz es de 600 nV. Los convertidores más simples son los unipolares, cuya salida analógico es de una sola polaridad. Sin embargo, los más empleados son los convertidores bipolares, los cuales permiten realizar una representación digital de cantidades que puedan tomar valores positivos o negativos. Hay dos tipos de convertidores bipolares: Bipolar con offset. Sólo cambia el bit de mayor peso (MSB), que ahora es 1 para las cantidades positivas y 0 para las negativas. Es un código muy fácil de realizar y por ello es uno de los favoritos en CDA que acepten entradas bipolares, a pesar de que alrededor del valor cero tiene muchas transiciones de bits. Bipolar con signo. Las cantidades positivas van precedidas de un 0 y las negativas de un 1. La cantidad “cero” puede representarse indistintamente con un 1 o con un 0 a la izquierda. Las transiciones de bits alrededor de cero son pocas, de modo que es un código interesante para representar cantidades próximas a cero. Sin embargo se utiliza poco porque dificulta las operaciones aritméticas. Se utiliza en los CDA de los voltímetros digitales. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 123 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 105. CONVERTIDORES UNIPOLARES Y BIPOLARES Las especificaciones DC o de continua tienen interés en aplicaciones de medida y control, operando con señales lentas y donde la temporización exacta de la conversión no es generalmente importante. Las principales especificaciones en continua son los errores de offset, ganancia y de no linealidad. Error de offset. Es la diferencia entre la curva de transferencia real y la ideal, en ausencia de otros errores (salvo el de cuantificación) cuando la entrada digital es cero. Afecta por igual a todos los códigos de entrada. Se puede corregir mediante calibración. Error de ganancia. Es la diferencia entre los puntos de la curva real y la ideal para la entrada digital de fondo de escala, cuando el error de offset se ha anulado. Se puede corregir mediante calibración. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 124 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 106. ESPECIFICACIONES DC No linealidad integral (INL). Desviación máxima respecto a la línea que une los extremos (cero y fondo de escala) de la curva característica del CDA, cuando los errores de cero y de ganancia son nulos. Se expresa como porcentaje del fondo de escala, o como fracción de LSB. Es un error que no se puede corregir. No linealidad diferencial (DNL). Idealmente la diferencia en la salida correspondiente a dos códigos adyacentes es 1 LSB. La no linealidad diferencial es una medida de la desviación con respecto a dicha situación ideal. Puede expresarse como una fracción de LSB o en forma porcentual respecto a FS. Si es mayor de 1 LSB la función de transferencia puede llegar a ser no monotónica es decir puede llegar a ocurrir que la pendiente cambie de signo. Hoy en día una parte importante de los CDA comerciales garantizan la monotoneidad de la característica de transferencia en un amplio margen de temperaturas de trabajo. Las especificaciones AC son importantes cuando los convertidores son usados en sistemas de muestreo y reconstrucción de señales. Las especificaciones AC más importantes son: Tiempo de establecimiento (Settling time, ts). Es el tiempo desde que se produce un cambio en el código de entrada hasta que la señal de salida del CDA se mantiene dentro de ± ½ LSB (u otra tolerancia especificada) del valor final. Este tiempo está compuesto por un primer proceso de duración td durante el cual la conmutación en tiempos desiguales de los interruptores del circuito produce un efecto indeseable en la salida denominado “glitch”, un cambio de tensión con pendiente determinada por la rapidez de cambio del PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 125 circuito (slew rate) y un proceso oscilatorio amortiguado alrededor del valor final de la tensión o corriente de salida. Slew rate. Es el cociente entre la tensión o corriente de plena escala y el tiempo de establecimiento requerido para alcanzar el valor de plena escala partiendo del valor de cero. Se expresa en V/s. Frecuencia de conversión (Conversión rate). Es la frecuencia máxima a la que se puede cambiar el código de entrada obteniendo la salida correspondiente. Generalmente suele ser menor que el inverso del tiempo de establecimiento y se expresa en Hz o en muestras por segundo (S/s). FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 107. ESPECIFICACIONES AC PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 126 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 108. CONVERTIDOR R – 2R Uno de los circuitos más empleados en los DACs es la red de resistencias en escalera R-2R de la figura 95. La corriente de salida, IOUT es la suma de las que fluyen a través de cada resistencia de valor 2R controlada por los distintos bits. Cuando el extremo inferior de cada rama está a 0 voltios, al ir de izquierda a derecha la corriente se va dividiendo por 2 a cada nodo. Con esta disposición de interruptores dobles la carga que ve la fuente de tensión de referencia es R, con independencia de la palabra de entrada. Algunos modelos tienen disponible en un terminal la corriente de salida complementaria, es decir, la correspondiente a la palabra digital complementaria de la aplicada a la entrada. Si una de estas dos corrientes no se utiliza, hay que derivarla a masa. La precisión obtenida en la fabricación de condensadores MOS con una relación de valores determinada, permite fabricar actualmente CDA basados en redes de condensadores en vez de resistencias. En los modelos con salida en corriente y resolución elevada, si se desea obtener una salida en tensión mediante un AO externo, hay que tener cuidado en la elección de AO, de forma que los errores de este sean lo menor posible. Criterios de Selección: Resolución: 8, 10, 12, 14, 16, 18 bits Tipo de salida: V, I Tiempo de establecimiento: μs Tensión de referencia: Externa/Interna Interfaz bus de datos: Serie (I2C, SPI), Paralelo Número de canales: 1, 2, 3, 4, 8 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD –JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 127 EJEMPLOS DE CDA: El MAX 5520 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 109. MAX 5520 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 110. SALIDA UNIPOLAR PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 128 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 111. SALIDA BIPOLAR FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 112. ALIMENTACIÓN APLICACIONES PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 129 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 113. APLICACIONES PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 130 LECCIÓN 5 SISTEMAS DE ADQUISICIÓN DE DATOS Un Sistema de Adquisición de Datos no es mas que un equipo electrónico cuya función es el control o simplemente el registro de una o varias variables de un proceso cualquiera. El objetivo básico de los "Sistemas de Adquisición de Datos"(S.A.D) es la integración de los diferentes recursos que lo integran: Transductores de diferentes tipos y naturaleza, multiplexores, amplificadores, sample and hold, conversores A/D y D/A, microcontroladores para chequear variables (PH, humedad relativa, temperatura, iluminación, concentración, etc.) para una posterior utilización de la misma ya sea con fines de control o medición. A continuación se muestra la grafica de un SAD FUENTE: http://www.monografias.com/trabajos17/sistemas-adquisicion-dato/sistemas- adquisicion-dato.shtml FIGURA 114. DIAGRAMA GENERAL DE UN SAD PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 131 SISTEMA DE ADQUISICIÓN DE DATOS (SIN S/H) La figura 115 muestra un diagrama de bloques de un sistema de adquisición de datos multiplexado con AGP y CAD. Supongamos que se da tanto la conmutación de canal en el multiplexor como la ganancia del AGP se establecen simultáneamente. Posteriormente se le da al CAD la orden de conversión. La máxima frecuencia de muestreo está limitada por el tiempo de conmutación del multiplexor (tmux), el tiempo de establecimiento del AGP (tagp) y el tiempo de conversión de CAD (tconv), como se muestra en la figura 115. Para evitar errores de codificación la señal de entrada debe mantenerse constante durante el tiempo de conversión. Suponiendo una señal de entrada sinusoidal podemos calcular, igual que hicimos en la transparencia 17, la frecuencia máxima de la señal de entrada. Por ejemplo suponiendo un CAD de 12 bits con tcov= 20 μs, la máxima frecuencia está limitada a 4 Hz. Esto puede ser adecuado si la señal es continua, pero no para señales dinámicas. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 115. SISTEMA DE ADQUISICIÓN DE DATOS (SIN S/H) SISTEMA DE ADQUISICIÓN DE DATOS (CON S/H) Añadiendo la función S/H al circuito anterior permite procesar señales dinámicas sin incrementar la complejidad del sistema ya que el S/H puede estar integrado en el CAD. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 132 En el esquema de la figura la temporización se realiza de forma que el multiplexor y el AGP se activan una vez realizada la adquisición por parte del S/H. FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 116. SISTEMA DE ADQUISICIÓN DE DATOS (CON S/H) APLICACIÓN La figura 117 muestra el empleo de un S&H para minimizar el efecto de los picos de tensión (gliches) que se producen en las transiciones del código de entrada de un CDA. El valor de estos picos depende de dicho código de entrada. Para minimizar estos picos, justamente antes de retener un nuevo dato en el CDA el S&H es puesto en el estado de retención de forma que los gliches son aislados de la salida. Las transiciones de conmutación producidas en la salida del S&H no dependen del código y son fácilmente filtrables. Esta técnica se puede emplear a bajas frecuencias para mejorar las características de distorsión de los CADs. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 133 FUENTE: HTTP://WWW2.ATE.UNIOVI.ES/13996/ FIGURA 117. APLICACIÓN DE UN SISTEMA DE ADQUISICIÓN DE DATOS TARJETAS DE ADQUISICION DE DATOS DAQ Las tarjetas DAQ son tarjetas insertables que permiten la entrada y salida de datos del computador a otros aparatos, donde se conectan sensores, y actuadores, para interactuar con el mundo real. Los datos que entran y salen pueden ser señales digitales o análogas, o simplemente conteos de ocurrencias digitales, tanto de entrada, como de salida. Figura 118 Las tarjetas se comportan como si fueran un puerto más en el computador, y poseen todo un protocolo y sistema de manejo, por lo que entender cada tarjeta, como su funcionamiento, al igual que cualquier instrumento, requiere de tiempo y cuidado. Existen tarjetas de alto desempeño, y de bajo. Las de alto son programables, y facilitan altas ratas de manejo de información, pues son en cierta forma inteligentes y suficientes, tal como un sistema Stand Alone, y por tanto no comprometen mucho la velocidad y rendimiento del computador. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 134 FUENTE: WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 118. LAS TARJETAS DE ADQUSICIÓN DE DATOS DAQ Las tarjetas de bajo desempeño requieren de un control directo del computador, y se ven limitadas por la velocidad de éste. El windows en cierta forma es un sistema operativo que no trabaja en tiempo real, para operaciones donde la rata de muestreo es muy alta, como en aplicaciones de audio, radar, vibraciones y video, aunque para aplicaciones de lentitud considerable es bueno, como en controles de hornos. En aplicaciones lentas Windows y tarjetas simples bastan porque los tiempos perdidos por el sistema de interrupciones de Windows (sea por mover el mouse o cualquier otra cosa) no afectan comparativamente. Para aplicaciones de alta velocidad y tiempo real, se requiere de hardware especial, o sea tarjetas inteligentes, que se programen, y transfieran los datos a memoria, ya sea por rutinas de DMA (acceso directo a memoria), o por rutinas de interrupciones al procesador. Las tarjetas como cualquier otro periférico, requiere de sus parámetros de programación, y hasta protocolos de comunicación, por lo que se requiere de un software Driver que maneje lo bajo de programación, y deje en la superficie, la posibilidad de programar aplicaciones con los beneficios de dichas tarjetas, de una forma sencilla. COMUNICACIÓN A TRAVÉS DEL PUERTO SERIAL. Se trasmite la información por un puerto que puede ser el COM1 o el COM2, de forma serial, ósea a través de un solo cable, y cada bit pasa uno tras otro a alta velocidad. Para la comunicación entre computadores se establece un protocolo común para que la información sea entendida por ambos. Se debe definir el tamaño de los BUFFER para almacenar datos mientras se realiza la comunicación. También se debe definir si hay Handshaking, el cual consiste en PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 135 que el que recibe cuando valla a tener lleno el búfer de información mande una instrucción (Si es por software es un comando <ctrl-S>, si es por hardware por una línea) para detener la transmisión, y otra para reanudar la transmisión de información.COMUNICACIÓN A TRAVÉS DE UN PUERTO DE GPIB. EL GPIB (General Purpose Interface Bus ANSI/IEEE 488.1 y 488.2), es un puerto diseñado por la Hewlett Packard, para establecer comunicación con instrumentos de medición. Muchos de los instrumentos como son Balanzas, Osciloscopios, multímetros y equipos de tipo “Stand Alone” (que no requieren de un computador para funcionar, son independientes) cuentan con este tipo de puerto. COMUNICACIONES DINÁMICAS ENTRE PROGRAMAS DE WINDOWS DDE. Si se tiene una base de datos abierta, es posible accesar datos de esta, y usarlos y viceversa, lo que sirve para una actualización dinámica. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 136 CAPÍTULO 2 SISTEMAS DE INSTRUMENTACIÓN DE VISUALIZACIÓN DINAMICA LECCIÒN 1 EL TUBO DE RAYOS CATODICOS (TRC) TUBO DE RAYOS CATODICOS Su función es generar el haz de electrones, posteriormente se acelera este haz y se desvía para crear la imagen; contiene además una pantalla de fósforo donde el haz de electrones llega a ser visible. El tubo de rayos catódicos cuenta con un cátodo que calentado emite electrones, posteriormente estos pasan por el ánodo de aceleramiento por medio de un pequeño hueco en la rejilla de control. La rejilla de control permite limitar la cantidad de corriente de cátodo. Se encuentra ubicado posteriormente un ánodo de enfoque, el cual antecede al ánodo acelerador, el ánodo acelerador suministra energía al haz de electrones para pasar hacia la pantalla fosforescente. - DEFLEXION ELECTROSTATICA La deflexión (D) sobre la pantalla fluorescente esta dada por: D = dEa LIdEd 2 Donde: D: deflexión sobre la pantalla fluorescente (metros). L: distancia a partir del centro de las placas de deflexión hasta la pantalla (metros). Id: longitud efectiva de las placas de deflexión. D: distancias entre las placas. Esta expresión muestra que si se tiene un voltaje dc (Ed), la desviación del haz de electrones sobre la pantalla es proporcional al voltaje de deflexión (Ea), la variación sobre la pantalla seguirá las variaciones del voltaje de deflexión de una manera lineal. Se define la sensibilidad de deflexión (S), en un tubo de rayos catódicos como la desviación sobre la pantalla (en metros), por voltaje de deflexión. S = Ed D V m = dEa LId 2 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 137 El factor de deflexión (G) es: G = S 1 = LId dEa2 = m V Este valor no depende del voltaje de deflexión; los rangos de los valores de factores de deflexión son 10 V /cm – 100 V/cm son sensibilidades de 1.0 mm/V y 0.1 mm/V . - ACELERACION DE POSTDEFLEXIÓN Dependiendo de la cantidad de energía que se transfiera al haz de electrones se tendrá una cantidad de luminosidad proporcionada por la pantalla de fósforo Lo ideal es tener un equipo rápido, para esto se debería acelerar el haz de electrones a la máxima velocidad, pero si se cuenta con un haz de electrones demasiado veloz se hace más difícil reflectar el haz. Para esto usualmente los osciloscopios inicialmente aceleran el haz a una velocidad relativamente baja, el haz se reflecta y posteriormente se reflecta hasta la velocidad final deseada. A estos tubos se les conoce como tubos de aceleración postdeflexión - PANTALLAS PARA LOS TUBOS DE RAYOS CATODICOS La superficie interior en la pantalla cuenta con fósforo, este recibe la energía cinética de los electrones y emite energía en el espectro visible a frecuencia baja. Esta característica se denomina fluorescencia, estos materiales además tienen la capacidad de continuar emitiendo luz posteriormente a que la fuente de excitación se suspende, esta propiedad se conoce como fosforescencia. La luminancia indica la intensidad de la luz emitida por la pantalla del CRT, esta determinada por el número de electrones que chocan contra la pantalla en un segundo, también depende de la energía con la que los electrones golpean la pantalla, estando sujeto al potencial de aceleración; la luminancia varia dependiendo del tiempo con que el haz golpea un área determinada del fósforo. Según las características físicas del fósforo se tendrá una variación en la luminancia. Es importante mantener baja la intensidad del haz de electrones de tal forma que se proteja el instrumento de un daño permanente en el fósforo por quemadura. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 138 FUENTE: PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF FIGURA 119. CAÑON DE UN TRC El cañón electrónico contiene el cátodo emisor, reja de control y electrodos aceleradores y de enfoque del haz electrónico, designados generalmente como sistema de lentes electrónicas. Con la excepción de los cañones electrónicos en los tubos de cámara, casi todos los cañones se basan en el principio de dos lentes consistentes en una fuente de electrones termoiónicos, una primera lente, generalmente electrostática y una segunda lente que puede ser electrostática, magnética o una combinación de ambas En la primera lente se encuentra el cátodo, la reja de control y el primer ánodo. El cátodo es de caldeo indirecto y tiene la forma mostrada en la figura 120. En el interior de un manguito cilíndrico de níquel se encuentra el filamento calefactor y el cátodo, es decir la superficie emisora propiamente dicha, en un disco sobre la cara plana del cilindro en dirección a la pantalla. FUENTE: PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF FIGURA 120. ESTRUCTURA DEL CÁTODO EN UN TUBO DE RAYOS CATÓDICOS La reja de control no es de la forma habitual que se encuentra en los triodos u otras válvulas de vacío. En este caso es un cilindro metálico, con un pequeño orificio a través del que pueden pasar los electrones. Esta configuración ayuda a reducir el área efectiva del cátodo a la vez que permite la configuración del haz electrónico en esa zona, como consecuencia del campo eléctrico entre la PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 139 reja y el cátodo. A continuación de la reja y separada de ésta por un pequeño espacio, se localiza el primer ánodo en el que mediante paredes cuidadosamente ajustadas se controla y configura el haz electrónico hacia la pantalla. La estructura de la primera lente así configurada se muestra esquemáticamente. FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF FIGURA 121. ESTRUCTURA ESQUEMÁTICA DE LA PRIMERA LENTE En ausencia de campos eléctricos, los electrones abandonan el cátodo con baja velocidad y forman una nube electrónica o carga de espacio en la zona entre el cátodo y la reja. Esta carga de espacio actúa como repulsor para los nuevos electrones emitidos por el cátodo y se alcanza una condición de equilibrio. Si se aplica un voltaje positivo, relativamente elevado, al primer ánodo, se establece un campo eléctrico en el espacio a su alrededor que arrastra a los electrones a través del orificio en el cilindro de la reja de control, conformándose un haz electrónico de sección circular y en la forma aproximada que se indica en la figura 121. La curvatura longitudinal de los bordes del haz está determinada por la distancia entre el primer ánodo y la reja de control, así como por el voltaje de este último. Los electrones del haz convergen en un punto en el interior del cilindro de la primera lente y luego nuevamente se separan. Este punto, situado en el eje del cañón electrónico y del tubo de rayos catódicos se designa como punto de cruce y puede considerarse que actúa como un cátodo virtual de muy pequeñas dimensiones. La cantidad de electrones quepasan hacia el primer ánodo depende del voltaje aplicado a la reja de control que, si es suficientemente negativo, impedirá el paso de cualquier electrón hacia la pantalla. La perforación o ventana en el primer ánodo sirve para conformar el haz electrónico, junto con la segunda lente, en la región entre éstas y la pantalla, a fin de que nuevamente converja en un punto sobre la pantalla. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 140 La posición del punto de cruce puede variar como consecuencia de los voltajes del primer ánodo y de la reja de control, así como de la densidad del haz electrónico en la zona del primer ánodo y tiene efectos sobre el enfoque del haz en la pantalla. Una forma de ajustar el enfoque de la imagen es, por consecuencia, variar el voltaje del primer ánodo. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 141 LECCIÒN 2 DEFLEXION HORIZONTAL Y VERTICAL SISTEMA DE DEFLEXIÓN VERTICAL Este sistema en su salida debe tener una señal amplificada del nivel apropiado, con la mínima distorsión posible En la figura 122, se ilustran los componentes de un sistema completo de deflexión vertical. FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF FIGURA 122. COMPONENTES DE UN SISTEMA DE DEFLEXIÓN VERTICAL El atenuador de entrada establece la sensibilidad del osciloscopio, proporcionando diferentes valores al preamplificador vertical. Existen diversas configuraciones de atenuadores. Una de las configuraciones empleada consta de un divisor resistivo conectado a un amplificador con una capacitancia de entrada de 10 pF, como se ilustra en la figura 123. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 142 FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF FIGURA 123. COMPONENTES DE UN SISTEMA DE DEFLEXIÓN VERTICAL Esta configuración tiene una caída a frecuencias altas causada por la capacitancia en paralelo del amplificador vertical. Para mejorar la respuesta en alta frecuencia se emplean atenuadores con divisores de voltaje resistivos y capacitivos como se muestra en la figura 124. FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF FIGURA 124. ATENUADOR CON DIVISOR RESISTIVO Y CAPACITIVO PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 143 Esta configuración tiene el nombre de atenuador compensado. En instrumentos de frecuencia mayores a 100 Mhz, se emplean divisores de entrada aun más complejos; en estos la atenuación se divide entre la entrada y la salida del preamplificador de deflexión vertical. Gran número de osciloscopios tienen un capacitor conmutable de acoplamiento. Este condensador de acoplamiento se elimina en la medición DC. El amplificador vertical del osciloscopio tiene una configuración push – pull, donde además de proporcionar ganancia de voltaje debe tener una ganancia de corriente, este amplificador trabaja con amplificadores clase A de alta corriente de realimentación. SISTEMA DE DEFLEXIÓN HORIZONTAL Este sistema esta conformado por un generador de base de tiempo, que controla la velocidad con la que se barre el haz en la superficie del tubo de rayos catódicos (CRT) y se ajusta desde el panel frontal. Cuenta además con un circuito de disparo, este asegura que el barrido horizontal se inicie en el mismo punto que la señal de entrada vertical. Se tiene además un amplificador horizontal, su función es la amplificación de la amplitud de señales provenientes del generador de barrido. El generado de barrido proporciona voltajes de rampa lineales que son alimentados al amplificador horizontal. Para lograr tener barridos variables en periodo de tiempo se emplean capacitares conmutados y corrientes variables. El barrido a realizar se inicia únicamente después de recibir un pulso de disparo que viene del circuito de disparo. Cuando se completa el barrido, el capacitor se descarga mediante un transistor retornando su voltaje a cero. La figura 125 muestra la relación existente entre los pulsos de disparo y la generación del barrido. El barrido no se disparará, hasta que el barrido más el tiempo de espera sean menor que el periodo de la entrada. Algunos osciloscopios cuentan con dos bases de tiempo, generalmente se sincronizan de manera tal que una base de tiempo retarde el disparo de la segunda base. La base de tiempo retardada se dispara con la señal de entrada, el barrido se inicia inmediatamente después del tiempo de retardo. También es utilizado el sistema de barrido alternado, donde un generador de base de tiempo o principal sincroniza la deflexión, PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 144 entonces el trazo tiene un movimiento vertical y se presenta la porción retardada. FUENTE:PERSONALES.UNICAN.ES/PEREZVR/PDF/TUBOS%20DE%20RAYOS%20CATODICOS.PDF FIGURA 125. RELACIÓN ENTRE LOS PULSOS DE DISPARO Y LA GENERACIÓN DE BARRIDO Se emplea también la conmutación de la velocidad de barrido después del tiempo de retardo. La porción inicial de la onda es visible a una velocidad de barrido lenta, y al tiempo retardado la velocidad de barrido cambia rápidamente. Se emplea este método cuando es difícil o imposible obtener un punto de disparo estable, solo se requiere un barrido para presentar las porciones lenta y retardada del trazo. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 145 LECCION 3 INSTRUMENTACIÓN PARA LAS MEDICIONES EN EL DOMINIO DEL TIEMPO EL OSCILOSCOPIO El osciloscopio es un instrumento que traza una grafica de una señal eléctrica, en la mayoría de las aplicaciones, esta gráfica muestra como cambia una señal con el tiempo, el eje vertical (Y) representa el voltaje, y el eje horizontal (X), representa el tiempo. Esta representación gráfica nos informará las siguientes características de la señal. - Valores de tiempo y voltaje de una señal. - La frecuencia de la señal. - La frecuencia con la que esta ocurriendo una porción particular de la señal con respecto a otras secciones de la señal - El distorcionamiento de la señal debido al mal funcionamiento de un componente. - Que parte de una señal es de corriente continua (CC) y que parte corriente alterna (CA). - Que parte es ruido, y si el ruido cambia con el tiempo. Un osciloscopio mide ondas de voltaje. Un ciclo de una onda es la porción de esta que se repite. Los contornos de una forma de onda nos dan información acerca de la señal. Si se observa un cambio en la parte superior de una forma de onda, es porque el voltaje permaneció constante. Si se observan líneas rectas y diagonales indican un cambio lineal (es decir aumento o disminución de voltaje a una velocidad estable). Si se observan ángulos agudos son debidos a cambios repentinos en el voltaje de la señal. TIPOS DE ONDAS - ONDAS SINUSOIDALES Es la forma de onda fundamental. El voltaje de la red eléctrica varía como una onda sinusoidal. Las señales de test producidas por los circuitos osciladores de un generador de señal son frecuentemente ondas sinusoidales. La onda sinusoidal amortiguada es un caso especial de una señal que oscila, pero que disminuye con el tiempo. En la figura 126 se muestra las ondas sinusoidales y sinusoidales amortiguadas. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 146FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 126. ONDA SINUSOIDAL Y SINUSOIDAL AMORTIGUADA ONDAS CUADRADAS Y RECTANGULARES En las ondas cuadradas el voltaje aumenta y disminuye a intervalos iguales. Es empleada esta forma de onda en circuitos digitales como señal de sincronismo de reloj. También se utiliza para verificar amplificadores. Si el funcionamiento del amplificador es optimo, este aumentará la amplitud de la onda cuadrada con una mínima distorsión. La onda rectangular es similar a la onda cuadrada, con la diferencia de que los tiempos de subida y bajada no son de igual longitud, tal como se observa en la figura 127. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 127. ONDA CUADRADA Y ONDA RECTANGULAR ONDAS DIENTE DE SIERRA Y TRIANGULARES Son empleadas en circuitos que controlan voltajes linealmente, como el barrido horizontal de un osciloscopio analógico o la exploración de la trama PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 147 de un televisor. Las transiciones entre niveles de voltaje de estas ondas cambian a una velocidad constante. Estas tensiones se llaman rampas. Sus características se observan en la figura 128. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 128. ONDA DIENTE DE SIERRA Y TRIANGULAR ONDAS ESCALÓN Y PULSOS Estas señales ocurren de forma no periódica, se denominan señales transitorias. La onda escalón indica un cambio repentino en el voltaje, similar a cuando se enciende un interruptor. La señal de pulso también indica un cambio repentino en el voltaje con un aumento y disminución rápida, similar al cambio de voltaje que se tendría si se encendiera y apagara un interruptor. Un pulso también es la representación de un bit de información. Una agrupación de pulsos se conoce como tren de pulsos. En un ordenador sus componentes se comunican a través de pulsos. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 129. ONDAS ESCALÓN Y PULSOS - SEÑALES PERIÓDICAS Y NO PERIÓDICAS - PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 148 Si una señal es repetitiva a través del tiempo es periódica, si por el contrario la señal cambia constantemente es no periódica. - SEÑALES SINCRONÍAS Y ASÍNCRONAS Si existe entre las dos señales una relación de tiempo las señales serán sincronías. Dentro de un ordenador las señales de reloj datos y dirección son sincronías. Si por el contrario entre las señales no existe una relación de tiempo la señal es asíncrona. MEDIDAS DE FORMA DE ONDA - FRECUENCIA Y PERIODO Si la señal se repite, tiene una frecuencia, esta equivale al número de veces que la señal se repite en un segundo, ciclos por segundo, se mide en hertz (Hz). El periodo corresponde a la medida en tiempo que tarda la señal en completar un ciclo. La relación entre frecuencia y periodo es inversa. La señal de la figura 5 tiene una frecuencia de 3 Hz y un periodo de 1/3 segundos. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 130. FRECUENCIA Y PERIODO DE UNA SEÑAL - VOLTAJE PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 149 El voltaje es una variación en el potencial eléctrico entre dos puntos en un circuito. Normalmente se realiza la medición desde el pico máximo de la señal al pico mínimo (voltaje pico a pico). - AMPLITUD Es definido como la cantidad de voltaje entre dos puntos de un circuito. Normalmente expresa el voltaje máximo de una señal medido desde tierra, o cero voltios. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 131. AMPLITUD DE UNA SEÑAL PERIÓDICA - FASE El desplazamiento de fase de dos señales describe la diferencia en tiempo entre dos señales similares. En la figura 7, la forma de onda que simboliza la corriente se dice que esta 90 grados desfasada con la forma de onda denominada voltaje. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 150 FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 132. FASE ENTRE DOS SEÑALES PERIÓDICAS TÉCNICAS DE MEDIDA EN OSCILOSCOPIOS Las dos medidas básicas que se pueden realizar con un osciloscopio son el voltaje y el tiempo, al ser medidas directas. Algunos osciloscopios digitales poseen un software interno que permite realizar las medidas de forma automática. Sin embargo, si se aprende a realizar medidas de forma manual, estará capacitado para chequear las medidas automáticas que realiza un osciloscopio digital. LA PANTALLA La figura 133 representa la pantalla de un osciloscopio. Se debe notar que existen unas marcas en la pantalla que la dividen tanto en vertical como en horizontal, forman lo que se denomina retícula ó rejilla. La separación entre dos líneas consecutivas de la rejilla constituye lo que se denomina una división. Normalmente la rejilla posee 10 divisiones horizontales por 8 verticales del mismo tamaño (cercano al cm), lo que forma una pantalla más ancha que alta. En las líneas centrales, tanto en horizontal como en vertical, cada división ó cuadro posee unas marcas que la dividen en 5 partes iguales (utilizadas como veremos más tarde para afinar las medidas) PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 151 FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 133. PANTALLA DE OSCILOSCOPIO Algunos osciloscopios poseen marcas horizontales de 0%, 10%, 90% y 100% para facilitar la medida de tiempos de subida y bajada en los flancos (se mide entre el 10% y el 90% de la amplitud de pico a pico). Algunos osciloscopios también visualizan en su pantalla cuantos voltios representa cada división vertical y cuantos segundos representa cada división horizontal. MEDIDA DE VOLTAJES Generalmente cuando se habla de voltaje realmente expresa la diferencia de potencial eléctrico, expresado en voltios, entre dos puntos de un circuito. Pero normalmente uno de los puntos esta conectado a masa (0 voltios) y entonces se simplifica hablando del voltaje en el punto A ( cuando en realidad es la diferencia de potencial entre el punto A y GND). Los voltajes pueden también medirse de pico a pico (entre el valor máximo y mínimo de la señal). Es muy importante que especifiquemos al realizar una medida que tipo de voltaje estamos midiendo. El osciloscopio es un dispositivo para medir el voltaje de forma directa. Otras medidas se pueden realizar a partir de esta por simple cálculo (por ejemplo, la de la intensidad ó la potencia). Los cálculos para señales CA pueden ser complicados, pero siempre el primer paso para medir otras magnitudes es empezar por el voltaje. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 152 FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 134. VOLTAJE PICO DE UNA SEÑAL En la figura 134 se ha señalado el valor de pico Vp, el valor de pico a pico Vpp, normalmente el doble de Vp y el valor eficaz Vef ó VRMS (root-mean-square, es decir la raíz de la media de los valores instantáneos elevados al cuadrado) utilizada para calcular la potencia de la señal CA. Realizar la medida de voltajes con un osciloscopio es fácil, simplemente se trata de contar el número de divisiones verticales que ocupa la señal en la pantalla. Ajustando la señal con el mando de posicionamiento horizontal podemos utilizar las subdivisiones de la rejilla para realizar una medida más precisa. (Recordar que una subdivisión equivale generalmente a 1/5 de lo que representeuna división completa). Es importante que la señal ocupe el máximo espacio de la pantalla para realizar medidas fiables, para ello actuaremos sobre el conmutador del amplificador vertical. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 135. MEDICIÓN DE VOLTAJE POR MEDIO DEL OSCILOSCOPIO Algunos osciloscopios poseen en la pantalla un cursor que permite tomar las medidas de tensión sin contar el número de divisiones que ocupa la señal. Basicamente el cursor son dos lineas horizontales para la medida de voltajes y dos lineas verticales para la medida de tiempos que podemos desplazar PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 153 individualmente por la pantalla. La medida se visualiza de forma automática en la pantalla del osciloscopio. MEDIDA DE TIEMPO Y FRECUENCIA Para realizar medidas de tiempo se utiliza la escala horizontal del osciloscopio. Esto incluye la medida de periodos, anchura de impulsos y tiempo de subida y bajada de impulsos. La frecuencia es una medida indirecta y se realiza calculando la inversa del periodo. Al igual que ocurria con los voltajes, la medida de tiempos será más precisa si el tiempo objeto de medida ocupa la mayor parte de la pantalla, para ello actuaremos sobre el conmutador de la base de tiempos. Si centramos la señal utilizando el mando de posicionamiento vertical podemos utilizar las subdivisiones para realizar una medida más precisa. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 136. MEDICIÓN DEL TIEMPO Y LA FRECUENCIA MEDIDA DE TIEMPOS DE SUBIDA Y BAJADA EN LOS FLANCOS En muchas aplicaciones es importante conocer los detalles de un pulso, en particular los tiempos de subida ó bajada de estos. Las medidas estándar en un pulso son su anchura y los tiempos de subida y bajada. El tiempo de subida de un pulso es la transición del nivel bajo al nivel alto de voltaje. Por convenio, se mide el tiempo entre el momento que el pulso alcanza el 10% de la tensión total hasta que llega al 90%. Esto elimina las irregularidades en las bordes del impulso. Esto explica las marcas que se observan en algunos osciloscopios (algunas veces simplemente unas líneas punteadas). La medida en los pulsos requiere un fino ajuste en los mandos de disparo. Para convertirse en un experto en la captura de pulsos es importante conocer el uso de los mandos de disparo que posea nuestro osciloscopio. Una vez capturado PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 154 el pulso, el proceso de medida es el siguiente: se ajusta actuando sobre el conmutador del amplificador vertical y el y el mando variable asociado hasta que la amplitud pico a pico del pulso coincida con las líneas punteadas (ó las señaladas como 0% y 100%). Se mide el intervalo de tiempo que existe entre que el impulso corta a la línea señalada como 10% y el 90%, ajustando el conmutador de la base de tiempos para que dicho tiempo ocupe el máximo de la pantalla del osciloscopio. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 137. MEDICIÓN DE LOS FLANCOS Y TIEMPOS DE SUBIDA MEDIDA DEL DESFASE ENTRE SEÑALES La sección horizontal del osciloscopio posee un control etiquetado como X-Y, que nos va a introducir en una de las técnicas de medida de desfase (la única que podemos utilizar cuando solo disponemos de un canal vertical en nuestro osciloscopio). El periodo de una señal se corresponde con una fase de 360º. El desfase indica el ángulo de atraso ó adelanto que posee una señal con respecto a otra (tomada como referencia) si poseen ambas el mismo periodo. Ya que el osciloscopio solo puede medir directamente los tiempos, la medida del desfase será indirecta. Uno de los métodos para medir el desfase es utilizar el modo X-Y. Esto implica introducir una señal por el canal vertical (generalmente el I) y la otra por el canal horizontal (el II). (Este método solo funciona de forma correcta si ambas señales son senoidales). La forma de onda resultante en pantalla se denomina figura de Lissajous (debido al físico francés denominado Jules Antoine PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 155 Lissajous). Se puede deducir la fase entre las dos señales, así como su relación de frecuencias observando la figura 138. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 138. FIGURAS DE LISSAJOUS PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 156 LECCIÒN 4 INTRODUCCIÓN PARA LAS MEDICIÓNES EN DOMINIO DE LAS FRECUENCIA EL ANALIZADOR DE ESPECTRO DIAGRAMA DE BLOQUES DE UN ANALIZADOR DE ESPECTRO La función del analizador de espectro consiste en, teniendo una señal compleja visualizar en un tubo de rayos catódicos las frecuencias de las armónicas que componen la señal. Se observará un bastón principal de mayor amplitud que corresponde a la componente fundamental, y bastones a la derecha que son proporcionales a la amplitud de la armónica respectiva. El analizador de espectro permite realizar mediciones del índice de modulación de AM y FM y determinan sus componentes en frecuencia, además de hacer mediciones de ruido El diagrama de bloques del analizador de espectro se muestra en la figura 139. FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 139. DIAGRAMA DE BLOQUES DEL ANALIZADOR DE ESPECTRO. La señal de entrada después de pasar por el atenuador entra a un filtro pasabajos, este elimina la imagen de entrada la cual representa la banda de frecuencias de 800 a 1100 Mhz. Posteriormente se ubica un primer mezclador PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 157 de señal que se conecta a un oscilador de frecuencia local, este se sintoniza con un diodo Varactor. El monitor del analizador de espectro es logarítmico, se encuentra en decibeles, generalmente dBm. Necesitándose entonces un amplificador logarítmico. Generalmente el monitor logarítmico tiene de 60 a 90 db, requiriéndose entre 6 y 9 amplificadores logarítmicos en circuitos integrados. Este amplificador también proporciona la ganancia del analizador. La figura 140 muestra una señal típica visualizada por el analizador de espectro se puede observar las componentes de la señal en diferentes valores de frecuencia FUENTE HTTP://USUARIOS.IPONET.ES/AGUSBO/OSC/OSC_5.HTM FIGURA 140. DIAGRAMA DE UNA SEÑAL TÍPICA CON SU COMPONENTE PRINCIPAL Y FUNDAMENTALES. CARACTERÍSTICAS GENERALES Y CLASIFICACIÓN 1. Analizadores de espectro de tiempo real o multicanal Esta compuesto por una serie de filtros pasabanda con frecuencia central corrida, de esta manera cada filtro permitirá el paso de una banda, el posterior dejará pasar la banda siguiente y así sucesivamente. Posterior a cada filtro se ubica un detector y un filtro pasabajos. Si la señal analizada cuenta con componentes en cada uno de los filtros pasabanda, en la pantalla se mostrará una señal vertical. La resolución dependerá del ancho de banda de cada filtro (a menor ancho de banda mayor resolución), si se quiere tener un analizador con una buena PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 158 resolución se necesita un gran número de filtros, por tal razón la banda de frecuencia a analizar no puede ser muy grande. Se emplea este tipo de analizador para señales con frecuencias bajas. 2. Analizadores de espectro de sintonía barrida Cuentan con solo un filtro pasabanda pero con una frecuencia central que esmóvil, permitiendo esto que la frecuencia sea desplazada a través de un generador de barrido. Los analizadores de espectro cuentan con un SCAN que dan la frecuencia por división (Hz, Khz, o Mhz por división). Los analizadores de espectro tienen la capacidad adicional de presentar señales de niveles altos y bajos en forma simultánea, esta capacidad se conoce como rango dinámico, presentado en db. La señal de entrada al analizador cuenta con componentes armónicas con diferentes frecuencias y amplitudes, se debe por lo tanto amplificar las señales débiles y fuertes al mismo tiempo. Cuando se busca amplificar lo suficiente para detectar señales pequeñas, es posible que se saturen las señales fuertes. Se busca que la ganancia del amplificador sea variable en función de la amplitud de la señal recibida, amplificando más las señales débiles que las fuertes. El rango dinámico consiste en la capacidad de presentar niveles altos y bajos simultáneamente. El empleo de amplificadores logarítmicos permite conseguir una ganancia variable. Se utilizan entonces 2 escalas verticales una lineal (LIN) y otra logarítmica (LOG). PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 159 LECCION 5 INTRODUCCIÒN A LA INSTRUMENTACIÒN VIRTUAL El concepto de instrumentación virtual nace a partir del uso del computador personal (PC) como "instrumento" de medición de tales señales como temperatura, presión, caudal, etc. Es decir, el PC comienza a ser utilizado para realizar mediciones de fenómenos físicos representados en señales de corriente (Ej. 4-20mA) y/o voltaje (Ej. (0- 5Vdc). Sin embargo, el concepto de "instrumentación virtual" va más allá de la simple medición de corriente o voltaje, sino que también involucra el procesamiento, análisis, almacenamiento, distribución y despliegue de los datos e información relacionados con la medición de una o varias señales específicas. Es decir, el instrumento virtual no se conforma con la adquisición de la señal, sino que también involucra la interfaz hombre-máquina, las funciones de análisis y procesamiento de señales, las rutinas de almacenamiento de datos y la comunicación con otros equipos. Veamos un ejemplo; el osciloscopio tradicional tiene una funcionalidad ya predefinida desde la fábrica donde lo diseñan, producen y ensamblan. Es decir, la funcionalidad de este tipo de instrumento es definida por el fabricante del equipo, y no por el usuario mismo. El término "virtual" nace precisamente a partir del hecho de que cuando se utiliza el PC como "instrumento" es el usuario mismo quién, a través del software, define su funcionalidad y "apariencia" y por ello decimos que "virtualizamos" el instrumento, ya que su funcionalidad puede ser definida una y otra vez por el usuario y no por el fabricante. Para construir un instrumento virtual, sólo requerimos de un PC, una tarjeta de adquisición de datos con acondicionamiento de señales (PCMCIA, ISA, XT, PCI, etc.) y el software apropiado, los tres (3) elementos clave en la conformación de un instrumento virtual, teniendo un chasis de acondicionamiento de señales como elemento opcional. Decimos que el "acondicionamiento de señales" es opcional, porque dependiendo de cada señal y/o aplicación, se puede o no requerir amplificación, atenuación, filtraje, aislamiento, etc. de cada señal. Si la señal está en el rango de los +/- 5Vdc y no se requiere de aislamiento o filtraje, la misma puede ser conectada directamente la tarjeta de adquisición de datos. En el instrumento virtual, el software es la clave del sistema, a diferencia del PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 160 instrumento tradicional, donde la clave es el hardware. Con el sistema indicado anteriormente, podríamos construir un osciloscopio "personalizado", con la interfaz gráfica que uno desee, agregándole inclusive más funcionalidad. Sin embargo, este mismo sistema puede también ser utilizado en la medición de temperatura, o en el control de arranque/parada de una bomba centrífuga. Es allí donde radica uno de los principales beneficios del instrumento virtual, su flexibilidad. Este instrumento virtual no sólo me permite visualizar la onda, sino que a la vez me permite graficar su espectro de potencia en forma simultánea. Para finalizar, la siguiente tabla (Tabla 10) nos indica algunas de las principales diferencias entre el instrumento convencional o tradicional, y el instrumento virtual: Instrumento Tradicional Instrumento Virtual Definido por el fabricante Definido por el usuario Funcionalidad específica, con conectividad limitada. Funcionalidad ilimitada, orientado a aplicaciones, conectividad amplia. Hardware es la clave. Software es la clave Alto costo/función Bajo costo/función, variedad de funciones, reusable. Arquitectura "cerrada" Arquitectura "abierta". Lenta incorporación de nuevas tecnología. Rápida incorporación de nuevas tecnologías, gracias a la plataforma PC. Bajas economías de escala, alto costo de mantenimiento. Altas economías de escala, bajos costos de mantenimiento. FUENTE: WWW.NI.COM/LABVIEW TABLA 10. INSTRUMENTO TRADICIONAL Vs INSTRUMENTO VIRTUAL La flexibilidad, el bajo costo de mantenimiento, la reusabilidad, la personalización de cada instrumento, la rápida incorporación de nuevas tecnologías, el bajo costo por función, el bajo costo por canal, etc. son algunos de los beneficios que ofrece la instrumentación virtual. La instrumentación virtual puede también ser implementada en equipos móviles (laptops), equipos distribuidos en campo (RS-485), equipos a distancia (conectados vía radio, Internet, etc.), o equipos industriales (NEMA 4X, etc.). Existe una tarjeta de adquisición de datos para casi cualquier bus o canal de comunicación en PC (ISA, PCI, USB, serial RS-232/485, paralelo EPP, PCMCIA, CompactPCI, PCI, etc.), y existe un driver para casi cualquier sistema operativo (WIN 3.1/95/NT, DOS, Unix, MAC OS, etc.). PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 161 FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 141. INSTRUMENTOS VIRTUALES EN LA INDUSTRIA Comparación del instrumento virtual versus el tradicional las técnicas utilizadas normalmente para evaluar las características de medición de un multímetro digital (DMM) pueden ser utilizadas para evaluar las características de medición de un instrumento virtual (VMM). Las características se encuentran en la tabla 11. Al estudiar profundamente la configuración de los sistemas de adquisición de datos modernos DAQ (Data Acquisition System), basados en equipos PC (Personal Computer), se aprecia que una de las partes que componen dichos sistemas, es el software quien controla y administra los recursos del computador, presenta los datos, y participa en el análisis. Viéndolo de este modo, el software es un tópico muy importante que requiere de especial cuidado. Para los sistemas DAQ se necesita de un software de instrumentación, que sea flexible para futuros cambios, y preferiblemente que sea de fácil manejo, siendo lo mas poderoso e ilustrativo posible. DMM VMM con tarjeta especializada VMM con tarjeta de propósito general PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 162 Hardware utilizado HP 34401 A DMM DAQCard 4050 PCI-MIO-16XE-10 No. de Canales 1 1 16 (Diferencial) Conversión AC True RMS True RMS True RMS (por software) Resolución (convertidor de 16- bits) 61/2 - 41/2 dígitos 51/2 dígitos 41/2 dígitos Rango de entrada (ACV) 100 mV - 750 V 20 mV - 250 V 100mV - 250 V (con acondicionamiento SCXI) Sensibilidad (ACV) 0.1 uV 0.1 uV 1.5 uV Rango de Entrada (DCV) 100 mV - 1000 V 20 mV - 250 V100 mV - 250 V Sensibilidad (DCV) 0.1 uV 0.1 uV 1.5 uV NMRR 60 dB 80 dB variable (80-120 dB) CMRR 70 dB (AC), 140 dB (DC) 90 dB (AC), 30 dB (DC) variable (80-120 dB) Velocidad de medición (lecturas/seg.) 5-1 K lecturas/seg 10, 50 , 60 K lecturas/seg 100 K lecturas/seg FUENTE: WWW.NI.COM/LABVIEW TABLA 11. INSTRUMENTO TRADICIONAL Vs INSTRUMENTO VIRTUAL Programas y lenguajes de programación que cumplan con lo dicho existen en gran número en el mercado actual, como por ejemplo el Visual Basic, el C, el C++, el Visual C++, Pascal, LabWindows CVI, Labview, y muchos otros confeccionados específicamente para las aplicaciones que los necesiten. VENTAJAS DE LabVIEW COMO SOFTWARE DE INSTRUMENTACIÓN VIRTUAL Es muy simple de manejar, debido a que está basado en un nuevo sistema de programación gráfica, llamada lenguaje G. Es un programa enfocado hacia la instrumentación virtual, por lo que cuenta con numerosas herramientas de presentación, en gráficas, botones, indicadores y controles, los cuales son muy esquemáticos y de gran elegancia. Estos serían complicados de realizar en bases como c++ donde el tiempo para lograr el mismo efecto sería muchas veces mayor. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 163 Es un programa de mucho poder donde se cuentan con librerías especializadas para manejos de DAQ, Redes, Comunicaciones, Análisis Estadístico, Comunicación con Bases de Datos (Útil para una automatización de una empresa a nivel total). Con este las horas de desarrollo de una aplicación por ingeniero, se reducen a un nivel mínimo. Como se programa creando subrutinas en módulos de bloques, se pueden usar otros bloques creados anteriormente como aplicaciones por otras personas. Es un programa que permite pasar las aplicaciones entre diferentes plataformas como Macintosh y seguir funcionando. INTRODUCCION AL LABVIEW El LabView es un lenguaje de programación de alto nivel, de tipo gráfico, y enfocado al uso en instrumentación. Pero como lenguaje de programación, debido a que cuenta con todas las estructuras, puede ser usado para elaborar cualquier algoritmo que se desee, en cualquier aplicación, como en análisis, telemática, juegos, manejo de textos, etc. Cada programa realizado en LabView será llamado Instrumento Virtual (VI), el cual como cualquier otro programa ocupa espacio en la memoria del computador. USO DE LA MEMORIA: La memoria usada la utiliza para cuatro bloques diferentes como son: EL PANEL FRONTAL: Donde se ven los datos y se manipulan y controlan. EL DIAGRAMA DE BLOQUES: En este se aprecia la estructura del programa, su función y algoritmo, de una forma gráfica en lenguaje G, donde los datos fluyen a través de líneas. EL PROGRAMA COMPILADO: Cuando se escribe en LabView, el algoritmo escrito de forma gráfica no es ejecutable por el computador, por tanto, LabView lo analiza, y elabora un código asembler, con base en el código fuente de tipo gráfico. Esta es una operación automática que ocurre al ejecutar el algoritmo, por tanto no es importante entender como sucede esto. Lo que si es algo para apreciar, es que en este proceso, se encuentran los errores de confección que son mostrados en una lista de errores, donde con PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 164 solo darle doble click al error, se aprecia en el diagrama de bloques, donde ocurre éste, para su corrección. LOS DATOS: Como el algoritmo maneja datos, requiere de un espacio en memoria para estos, lo que hace tomar en cuenta que el computador usado debe tener la memoria suficiente para manejarlos. Por ejemplo, cuando se usan grandes matrices en calculos se puede requerir de mucho espacio. Nota: A un programa VI terminado se le puede borrar el diagrama de bloques para que ocupe menos memoria, y no pueda ser editado, y seguirá funcionando. El panel nunca puede ser borrado. FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 142. APLICATIVOS LabVIEW PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 165 FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 143. MEDICIONES VIRTUALES CON LABVIEW INSTRUMENTOS VIRTUALES Un programa creado en LabVIEW es llamado como Instrumento Virtual y consta de tres partes a crear. El Panel frontal, donde estarán ubicados todos los indicadores y controles que el usuario podrá ver cuando el programa este en funcionamiento. Por ejemplo botones, perillas, gráficas,etc. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 166 Barra de desplazamiento Gráfica Título Icono Menus Paleta de herramientas Boton Control FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 144.EL PANEL FRONTAL El diagrama de bloques muestra el programa en código gráfico G. Se usan en este diagrama estructuras de programación, y flujo de datos entre las diferentes entradas y salidas, a través de líneas. En este las subrutinas son mostradas como iconos de cajas negras, con unas entradas y unas salidas determinadas, donde en el interior se cumple una función específica. El flujo se aprecia, como se dibujaría en un bosquejo de sistemas, cuando se habla de teoría de sistemas, donde cada subsistema se representa como un cuadro con entradas y salidas. Todos los indicadores y controles ubicados en el panel frontal están respaldados por un terminal de conexión en el diagrama de bloques tal como si se tuviera un tablero de control de una máquina o un avión, donde por el frente PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 167 se ven los indicadores y por el lado posterior se aprecian todos los cables y terminales de conexión. FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 145. DIAGRAMA DE BLOQUES El icono de conexión. Se usa para utilizar el programa creado como subrutina en otro programa, donde el icono será la caja negra, y las entradas son las conexiones a los controles del programa subrutina, y las salidas son las conexiones a los indicadores del mismo subprograma. Al crear el icono, se conecta a través del alambre de soldadura a los indicadores y controles en la forma que se desee que se distribuyan las entradas y salidas en la caja negra, tal como en un circuito integrado algunos pines corresponden a alguna función en él. La idea es crear un sistema de programación modular, donde cada rutina creada llame otras rutinas, y estas a su ves otras de menor nivel, en una cadena jerárquica con cualquier límite deseado. Así cuando se use un módulo, no se requiere saber como funciona interiormente, simplemente solo basta conocer sus entradas y salidas para ser así usado. Para saber el uso de los subvis, la ventana de “help” ofrece la información pertinente a las entradas y salidas. Esta ventana se puede obtener presionando Ctrl-h o por medio del menu “Windows” PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 168 FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 146. VENTANA HELP DE INFORMACIÓN PALETAS DE TRABAJO Tanto en el panel frontal como en el diagrama de bloques, existe una paleta de herramientas, que sirve tanto para editar el VI, o ejecutarlo según el modo de trabajo que se tenga. Cuando se trabaja en modo de ejecución, la paleta es la de la figura 147. Ejecutar Modo Stop Corrido sucesivo Punto de paro Modo de corrido Highlight Imprimir Panel Grabar Panel FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 147. PALETA DE EJECUCIÓN DE PROGRAMA PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD –JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 169 Con el botón “Ejecutar” se corre una vez el programa. Cuando está ejecutando, se cambia a rayado como se aprecia en la figura y aparece un botón de “Stop” con el cual se pede detener el programa. No es recomendado hacer esto, es preferible crear un algoritmo de paro del programa, con un botón destinado exclusivamente para esto. Algunos programas al terminar deben de ejecutar algunas operaciones de cierre, como puede ser en la programación de tarjetas de adquisición de datos, o en el cierre de archivos, por tanto si se usa el botón de stop, este parará el programa totalmente, en el punto en el que se encontraba y no permitirá que complete sus rutinas de cierre, pudiendo incurrir en errores y perdida de la información. Cuando la flecha aparece rota indica que hay un error en el programa. Al hacer clic se muestra una lista de errores, y al hacer clic en cada uno de los errores se apreciará en el diagrama la ubicación de la falla. “Modo” cambia entre modo de edición y modo de ejecución. Así está en modo de ejecución. “Corrido sucesivo” hace que el programa ejecute una ves tras otra hasta que se le de un paro con el botón de stop. “Punto de paro” al ser presionado cambia a “!”, así, al ser llamado como subrutina, abrirá el panel frontal para mostrar como cambia, para encontrar errores de lógica, o por simple visualización. “Modo de corrido” Al ser presionado cambia a una línea por pasos, así el programa ejecutará paso a paso. cada paso se dará al oprimir el icono de un solo paso. “Highlight” Muestra como fluyen los datos y que datos, a través de las líneas del diagrama de bloques.” “Imprimir Panel” Imprime el panel frontal actual cuando termina de ejecutar el programa. “Grabar Panel” Almacena en un archivo .LOG el estado actual del panel frontal. En el modo de edición la paleta es la de la figura 148. “Operador” Sirve para accionar los controles e indicadores. “Posicionador” Sirve para cambiar de posición los diferentes elementos en las diferentes pantallas. También permite cambiar el tamaño de estos. “Texto” Permite crear textos y etiquetas, tanto como cambiar los valores de las escalas de las gráficas. “Alambrador” Sirve para conectar los elementos en el diagrama de bloques, y para conectar los controles e indicadores a los pines del ícono del programa. “Color” Permite colorear los diferentes elementos. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 170 Ejecución Modo Operador Posicionador Texto Alambrador Color FUENTE WWW.NI.COM/LABVIEW FIGURA 148. PALETA DE EDICIÓN En realidad esta es una pequeña reseña del poderoso programa LabVIEW; no obstante en esta lección se tomaron tips muy importantes los cuales son base para una posterior profundización del tema. CONCLUSIONES Un instrumento virtual puede realizar las tres (3) funciones básicas de un instrumento convencional: adquisición, análisis y presentación de datos. Sin embargo, el instrumento virtual me permite personalizar el instrumento, y agregarle mucha más funcionalidad sin incurrir en costos adicionales. ¿Quiere conectividad de su instrumento con Ethernet? ¿Quiere almacenar sus datos en una tabla o archivo compatible con MS Excel? ¿Quiere agregarle a su instrumento un nuevo algoritmo o función que necesita en su experimento? La respuesta a todas estas preguntas está en sus manos, ya que todo ello puede hacerse y, mejor aún, puede hacerlo usted mismo. El instrumento virtual le apalanca en la flexibilidad y poder del PC, y mediante el software que lo acompaña, el nivel de adaptabilidad y personalización del instrumento virtual es casi ilimitado. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 171 CAPÍTULO 3. INTRODUCCIÓN DE LA INSTRUMENTACIÓN PARA MEDICIONES DE INTERFERENCIAS ELECTROMAGNÉTICAS - REFLECTOMETRÍA LECCIÓN 1. MODELAMIENTO DE UNA LÍNEA DE TRANSMISIÓN MODELAMIENTO DE UNA LÍNEA DE TRANSMISION Al analizar los parámetros distribuidos en un conductor se toman en cuenta la distribución espacial de sus componentes (sus dimensiones físicas), por el contrario los circuitos eléctricos y electrónicos se denominan circuitos de parámetros concentrados. Tengamos en cuenta que una línea de transmisión, esta formada por dos conductores adyacentes separados por un dieléctrico, uno de los conductores se puede denominar positivo y el otro, tierra o negativo. Al tomar como base este modelo de línea de transmisión se observa que sus características son similares a la de un condensador (unión de conductor – aislante – conductor). Dicha línea de transmisión tendrá también un comportamiento inductivo, al considerarse la línea de transmisión como una espira cerrada con un generador en un extremo y en el otro la carga. Teniendo en cuenta entonces las características no ideales de dicha línea de transmisión, debemos tener encuentra además la resistencia, la cual aumentara a medida que se tenga una mayor longitud (la resistencia es directamente proporcional a la longitud). Obtendremos así un modelo de la línea de transmisión con una resistencia R, una Inductancia L y una Capacitancia C Este modelo se distribuirá a través de toda la línea de transmisión, teniéndose n trozos del modelo base distribuidos a través de la longitud de la línea como se muestra en la Figura 149: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 172 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 149. PARÁMETROS DISTRIBUIDOS EN UNA LÍNEA DE TRANSMISIÓN - Se tiene un componente capacitivo distribuido (expresado en faradios por unidad de longitud) se ilustra en la figura como un condensador en paralelo, es debido al campo eléctrico existente en el dieléctrico entre los conductores de línea, este modela el procedimiento de almacenamiento energético en forma de campo eléctrico que se produce en la línea. - El componente inductivo distribuido (expresado en henrios por unidad de longitud) se ilustra en la figura como una bobina en serie, es debida al campo magnético alrededor del conductor y modela el proceso de almacenamiento de energía en forma de campo magnético que se produce en la línea. - La resistencia distribuida del conductor (expresada en ohmios por unidad de longitud), se ilustra en la figura como la resistencia en serie R, es causada por las características no lineales de los conductores. - La conductividad distribuida (expresada en Mohs por unidad de longitud o Siemens por unidad de longitud), se ilustra en la figura por un conductor en paralelo G, este modela la disipación de potencia que se produce por la no linealidad del dieléctrico. Para este modelamiento suponemos entonces unas características homogéneas a lo largo de la línea de transmisión, los parámetros R y G son pequeños, y sus efectos se pueden ignorar, se tendrá entonces que cada “tramo” que integra el modelo cuenta con una inductancia (L) y una capacitancia (C) unitaria, como se ilustra en la figura 150 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 173 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 150. MODELO APROXIMADO DE UNA LÍNEA DE TRANSMISIÓN Se puede representar una línea de transmisión como una sucesión de cuadripolos, con una longitud infinitesimal, para cada uno de estos elementos se emplea un modelo circuital, donde las tensiones y corrientes de entrada y salida son los parámetros descriptivos. Si la longitud de la línea de transmisión se extiende a través del eje z, cada sección de la línea de transmisión tendrá una longituddz. Tal como se muestra en la figura 151 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 151. SECCIÓN DE LA LÍNEA DE TX (CUADRIPOLO) Se asume una línea sin perdidas de energía, donde el dieléctrico tampoco tendrá perdidas. Las corrientes y cargas en el conductor provocan campos eléctricos y magnéticos cuya representación serán componentes reactivos: capacidad e inductancia. La Capacitancia representará el campo eléctrico que se crea por las cargas en los conductores de la línea y la inductancia representará el campo magnético generado por las corrientes circulantes. Ldz será entonces la inductancia del tramo y Cdz su capacidad. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 174 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 152. COMPONENTES INDUCTIVAS Y CAPACITIVAS Al aplicar la ley de corrientes de Kirchoff en el segmento de la figura 152 : z t v Cdzzidzzi )()( = 0 El último termino es la corriente que sale del Capacitor Cdz De donde: )()( zidzzi ≈ dz z i Entonces: z z i ≈ -C z t v Al aplicar la ley de voltajes de Kirchoff en la malla del segmento: )()( zv t i Ldzdzzv = 0 De donde z z v ≈ -L z t i Resumiendo: z z i ≈ -C z t v y z z v ≈ -L z t i Estas dos ecuaciones diferenciales se conocen como ecuaciones para una línea ideal. Para analizar estas expresiones se deriva la primera con respecto al tiempo y la segunda con respecto a z: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 175 2 22 t v C tz i y zt i L z v 2 2 2 Las derivadas cruzadas son iguales, de tal forma que: 0 2 2 2 2 t v LC z v Esta expresión diferencial se denomina ecuación de onda o ecuación de D’Alembert. Esta ecuación diferencial de lineal homogénea, tiene la solución del tipo )(),( ctzftzv Donde LC c 1 Es la representación de una onda que se propaga a lo largo del eje z con velocidad c. Si se emplea el signo (-) la onda se propaga en sentido +z, si se toma el signo (+) la onda se propaga según –z. Se tendrá una ecuación semejante para la corriente i(z,t) a lo largo de la línea. - LÍNEAS DE TRANSMISIÓN CON PÉRDIDAS: En los sistemas reales se tiene pérdidas de energía causadas por: - Perdidas dieléctricas - Perdidas por Efecto Joule en los conductores. FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 153. REPRESENTACIÓN DE UN SEGMENTO DE LA LÍNEA DE TX CON PERDIDAS PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 176 Al modelo empleado anteriormente se le agrega una resistencia en serie que representa las perdidas por efecto Joule causadas por la circulación de corriente en los conductores de la línea y una conductancia en paralelo que representa las perdidas dieléctricas, como se muestra en la figura 153. Al aplicar la ley de corrientes de Kirchoff: z t v CdzzGdzvzidzzi )()()( de donde : z t v CzGvz z i )( Al aplicar la ley de voltajes de Kirchoff: z t i LdzzRdzizvdzzv )()()( De donde: z t v LzRiz z v )( Para resolver estas ecuaciones se desacoplan mediante las derivadas cruzadas obteniéndose: z t v LzRiz z v )( Entonces: zt i L t v RCRGv zt i L z i R z v 22 2 2 Y z t v CzGvz z i )( Entonces: 2 22 t v C t v G tz i En donde: 2 2 2 2 )( t v LC t v LGRCRGv z v 2 2 2 2 )( t i LC t i LGRCRGi z i Estas ecuaciones diferenciales de tipo ondulatorio quedan ecuaciones de D’Alembert si se considera que R=G=0. La solución simple, en notación fasorial, para variaciones armónicas será: PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 177 jwt s ezvtzv )().( jwt s ezitzi )().( La ecuación diferencial para la tensión tendrá la forma: s s vLCwLCRCjwRG dz vd ])([ 2 2 2 Entonces: 02 2 2 s s v dz vd Donde ))(()(2 jwCGjwLRLGRCjwRGLCwi La corriente tendrá una ecuación similar. Estas expresiones son conocidas como ecuaciones de Helmholtz; a i se le denomina numero de onda, tiene una componente compleja que indica una propagación con atenuación causada por las perdidas en el trayecto del conductor. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 178 LECCION 2. PROPAGACION DE SEÑALES A TRAVES DE UN CONDUCTOR Si tenemos en cuenta la propagación de la señal tendremos dos ondas: una onda incidente (o progresiva) y una onda reflejada (o regresiva), de tal forma que la expresión que muestra este comportamiento será: Donde: k =w/v Se llama número de onda y posee unidades de radianes por metro, ω es la frecuencia angular o natural, en radianes por segundo, f1 y f2 pueden ser cualesquiera funciones imaginables, y v = LC 1 : Representa la velocidad de propagación de la onda. f1 representa una onda viajera según la dirección positiva de x, mientras que f2 representa una onda viajera según la dirección negativa de x. Se puede decir que la tensión instantánea en cualquier punto x de la línea, V(x), es la suma de las tensiones de ambas ondas. Dado que la corriente I guarda relación con la tensión V, podemos escribir I (x,t) = Z kxwtf )(1 - Z kxwtf )(2 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 179 LECCION 3: IMPEDANCIA CARACACTERISTICA EN UN CONDUCTOR Se define la impedancia característica como la relación existente entre la diferencia de potencial aplicada y la corriente absorbida por la línea, en el caso hipotético de que esta tenga longitud infinita, o donde siendo finita no se presenten reflexiones. Su valor lógicamente dependerá de los parámetros de dicha línea, relacionados mediante la siguiente expresión: Z= cjwG LjwR * * Si tenemos en cuenta que los valores de R y G son muy pequeños, la expresión se resume en: Z = C L Es la impedancia característica en ohmios, esta no depende de la longitud sino de la disposición geométrica de los conductores. No debe confundirse entonces la impedancia característica de un cable determinado (función del tipo de cable), con su impedancia, la cual si depende de su longitud. Son típicas las impedancias características de 600 ohmios para pares telefónicos, de 75 ohmios para cables coaxiales normalmente usados en televisión y de 50 ohmios, para coaxiales empleados en redes locales. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 180 LECCION 4 SONDA ATENUADA EFECTO CAPACITIVO E INDUCTIVO Las sondas funcionan en conjunto con el osciloscopio como parte de un sistema de medida, las sondas se convierten entonces en parte del circuito, generando cargas capacitivas, inductivas y resistivas. Para minimizar estos efectos se debe buscar ofrecer una sonda que presente una carga mínima. Revisemos los tipos de sondas: SONDAS PASIVAS Si se realizan medidas en un rango de frecuencias medias estas ofrecen por un bajo costo un buen desempeño; la mayoría tienen factores de atenuación 10x, 100x. La sonda atenuada 10x minimiza la carga del circuito en comparación de una sonda 1x. Lasonda atenuadora 10x funciona balanceando las características eléctricas de la sonda con las características eléctricas del osciloscopio. Antes de emplearse es necesario ajustar este balance para cada osciloscopio en particular. Este ajuste se denomina compensación de la sonda. Uno de los limitantes de esta sondas es cuando se tienen señales con flancos de subida excesivamente rápidos, y pueden cargar circuitos excesivamente sensibles. Las sondas pasivas de atenuación de tensión deben ser compensadas con el osciloscopio, esto es, balacear sus características eléctricas con las de un osciloscopio en particular. Si las sondas no se compensan no se tendrán medidas precisas. Muchos osciloscopios tienen una señal de referencia de onda cuadrada, que se emplea para compensar la sonda, siguiendo los siguientes pasos: - Conectar la sonda a un canal vertical. - Conectar la punta de la sonda al punto de compensación de la sonda, por ejemplo a la señal de referencia de onda cuadrada. - Conecte la pinza de la sonda de tierra al punto de sonda al osciloscopio. - Visualice la señal de referencia de onda cuadrada. - Realice los ajustes adecuados en la sonda para que las esquinas de la onda cuadrada tengan un ángulo recto. La Figura 154 ilustra el ajuste correcto de la sonda y las variaciones de señal si no se tiene el ajuste adecuado. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 181 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 154. AJUSTE DE SONDAS SONDAS ACTIVAS Y DIFERENCIALES Estas emplean circuitos especialmente desarrollados para conservar la señal durante su acceso y transmisión al osciloscopio, asegurando la integridad de las mismas. Cuando se tengan señales con tiempo de subida rápidos se tendrán resultados precisos con este tipo de sondas. COMPENSACION DE EFECTOS CAPACITIVOS E INDUCTIVOS Las sondas se construyen para que tengan un efecto mínimo sobre el circuito de medida. Esta facultad de la sondas recibe el nombre de efecto de carga, para minimizarla se utiliza un atenuador pasivo, generalmente de x10. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 182 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 155. COMPENSACIÓN DE EFECTOS DE CARGA Mediante el condensador variable que se muestra en la Figura 155 se compensa el efecto de carga generada por la sonda, la calibración se debe realizar con una señal de entrada de prueba. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 183 LECCIÓN 5 REFLECTOMETRÍA. La forma más general a evaluar la respuesta en el dominio de tiempo de cualquier sistema electromágnetico es solucionar las ecuaciones de Maxwell en el dominio de tiempo. Tal procedimiento consideraría todos los efectos de la geometría del sistema y de las características o propiedades eléctricas, incluyendo efectos de las líneas de la transmisión. Sin embargo, esto sería algo complicado para un conector simple y aún más para una estructura tal como una plaqueta multicapa de un sistema de alta velocidad. Por esta razón, varios métodos de prueba se utilizan para asistir al ingeniero electrónico para analizar la integridad de la señal. La reflectometria del dominio de tiempo TDR proporciona en forma más intuitiva y más directa las características del sistema bajo prueba. Usando un generador de escalón y un osciloscopio, una elevación rápida de tensión se envía a la línea de la transmisión bajo investigación. Las señales, la onda incidente y las ondas reflejadas de tensión son observadas con un osciloscopio en un punto particular en la línea. Esta técnica del eco, revela de un vistazo la impedancia característica de la línea, y muestra la posición y la naturaleza (resistente, inductivo, o capacitivo) de cada discontinuidad a lo largo de la línea. TDR también demuestra si las pérdidas en un sistema de la transmisión son pérdidas serie o pérdidas en paralelo. Toda esta información está inmediatamente disponible en el osciloscopio. TDR también da una información más significativa referente a la respuesta de banda ancha de un sistema de transmisión que cualquier otra técnica. La figura 156 nos muestra el principio de esta medición, PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 184 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 156. TENSION EN FUNCIÓN DEL TIEMPO EN UN PUNTO PARTICULAR DE UNA LINEA DE TRANSMISION El generador de escalón produce una onda incidente positivo que se aplique al sistema de transmisión bajo prueba. El escalón viaja por la línea de la transmisión con la velocidad de la propagación de la línea. Si la impedancia de la carga es igual a la impedancia característica de la línea, no se refleja ninguna onda y lo que verá en el osciloscopio es el escalón de tensión incidente. Si la impedancia de carga no es igual a la impedancia característica, parte de la onda del incidente se refleja. La onda reflejada de tensión aparecerá en el osciloscopio sumada a la onda incidente. Esta técnica requiere el uso de un osciloscopio caro con especificaciones avanzadas, para el común de los análisis a realizar lo mismo que generador de escalón de tensión, en general con especificaciones de tiempo del orden del nanosegundo. CONSTRUCCIÓN DE UN GENERADOR DE PULSOS Es posible experimentar con estos conceptos utilizando un generador de pulsos no tan exigente y fácil de obtener como el mostrado en la figura 157 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 185 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 157. GENERADOR DE PULSOS El transistor Q3 forma parte de un generador de tensión, con señales del orden del milisegundo, el generador de escalón con un tiempo de elevación rápido es el realizado por el transistor Q2 y el acople entre etapas realizada por C1 y R1. El sistema esta formado por un generador de escalón, con un tiempo de subida muy pequeño, un osciloscopio y la línea a estudiar, el generador de escalón genera una señal, que avanza, como una onda a través de la línea con una velocidad que depende de la misma y llega a la carga en un determinado tiempo, FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 158. DIAGRAMA DE BLOQUES DEL SISTEMA PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 186 Si la impedancia de carga ZL es igual a la impedancia característica de la línea, no se produce una reflexión y la señal vista en el osciloscopio es la siguiente, FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 159. SEÑAL REFLEJADA NULA Si la impedancia de carga ZL no es igual a la impedancia característica, ocurre una reflexión, que se propaga de nuevo hacia el generador y al llegar al mismo se suma a la señal original como se muestra a continuación, FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 160. SEÑAL REFLEJADA PRUEBAS DE REFLECTOMETRIA Las siguientes señales fueron observadas para un largo de la línea de L=1000 cm , en la primera foto la resistencia de carga fue de RL= 0 omhios y Vcc=12 V PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 187 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 161. PRUEBA DE REFLECTOMETRIA N°1 y para la siguiente la carga fue circuito abierto y Vcc= 12 V,PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 188 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 162. PRUEBA DE REFLECTOMETRIA N°2 Las siguientes señales fueron medidas con una línea de 67 metros y además se fotografió la señal del colector de Q3 de la etapa de excitación, PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 189 FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 163. PRUEBA DE REFLECTOMETRIA N°3 PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 190 Experimento con la linea de 67 metros. Esta línea nos permite estudiar las propiedades de este sistema con un instrumental relativamente fácil de conseguir como un generador de señales rectangulares con un periodo de 150 mseg y un osciloscopio con una base de tiempo de 1 mseg/div, los siguientes puntos abarcan diferentes experimentos, variando la impedancia de carga ZL. ZL capacitiva. En el siguiente experimento, en el cual se observa la señal vsal, se utilizo una carga ZL capacitiva, utilizando un capacitor de 0.013 mF, la señal del generador realizado por el transistor Q3, es rectangular con un periodo de 150 microsegundos. FUENTE ELEC.ITMORELIA.EDU.MX/TOVAR/2MODLINEAS-01.HTM FIGURA 164. GRAFICA RESULTANTE DE LA PRUEBA DE REFLECTOMETRIA PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 191 Los proyectos descriptos utilizan tensiones eléctricas elevadas que pueden resultar mortales, como igualmente las sustancias, métodos y equipos pueden resultar peligrosos. No trabajar o experimentar en estos proyectos si no esta familiarizado con estas técnicas o no puede adoptar medidas de seguridad, consulte a profesionales, en cualquier caso quien quiera trabajar en cualquiera de estos proyectos debe asumir la responsabilidad, por daños a uno mismo, a terceros o a propiedades. PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 192 BIBLIOGRAFÍA LIBROS CONSULTADOS Cooper, Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas de medición”, Prentice Hall. Bopton, ”Mediciones y pruebas eléctricas y electrónicas”, Alfaomega Lázaro, Manuel, “Problemas resueltos de instrumentación y medidas electrónicas”, Paraninfo. Manuales de los equipos de laboratorio seleccionados Guías del profesor Lázaro, Manuel, “Problemas resueltos de instrumentación y medidas electrónicas”, Paraninfo. Cooper, Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas de medición”, Prentice Hall. Buchla, David y Mc Lachlan, Wayne, ”Applied electronic instrumentation and measurement”, Macmillan publishing company, New York. Cooper, Helfrick, “Instrumentación electrónica moderna y técnicas de medición”, Prentice Hall Creus, Antonio. Instrumentación Industrial. Sexta edición Alfaomega – Marcombo 1998. Doebeling, E. O. Measurement Systems Applicationand Design. McGraw Hill New York 1990. Lion, K. S. Elements Of Electrical And Electronic Instrumentation. McGraw Hill New York 1975. Ogata, Katsuhiko. Modern Control Engineering. Segunda edición Englewood Cliffs Prentice Hall New York 1990. PAGINAS WEB CONSULTADAS Pagina Web de Física http://www.sc.ehu.es/sbweb/fisica/unidades/unidades/unidades.htm Pagina Web de Metrología www.cem.es/cem/es_es/metrologia/sme.pdf Pagina Web de Procedimientos de Referencia www.quimica.urv.es/quimio/general/crms.pdf Pagina Web de la Superintendencia de Industria y Comercio http://www.sic.gov.co/metrologia/Electrica/Potencia.php Pagina Web Instrumentación Electrónica http://www2.ate.uniovi.es/13996/ Pagina Web con documentación técnica de medidores análogos www.labc.usb.ve/mgimenez/lab_circ_electronicos_guia_teorica/cap6.pdf Pagina Web de consulta personalizada www.monografias.com/trabajos17/sistemas-adquisicion-dato/sistemas- adquisicion-dato.shtml Pagina Web de Nacional Instruments, LabVIEW PROGRAMA DE INGENIERIA ELECTRONICA CEAD – JAG INSTRUMENTACION Y MEDICIONES UNIDAD 2 INSTRUMENTACIÓN Y MEDICIONES DIGITALES 193 www.ni.com/labview Pagina Web con documentación técnica de Tubos de Rayos catódicos personales.unican.es/perezvr/pdf/tubos%20de%20rayos%20catodicos.pdf Pagina Web con documentación técnica sobre el manejo del osciloscopio http://usuarios.iponet.es/agusbo/osc/osc_5.htm Pagina Web con documentación técnica sobre Reflectometría elec.itmorelia.edu.mx/tovar/2modlineas-01.htm